[发明专利]偏光膜的缺陷检测装置以及方法

权利要求书

1.一种偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，该偏光膜的缺陷检测装置具有：

接收部，其接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果；以及

检测部，其分析所述检查结果，检测偏光膜的缺陷，

所述检测部根据缺陷类型、ΔX、ΔY、面积、密度、尺寸、峰值、厚度中的两个以上的参数，判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。

2.根据权利要求1所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述偏光膜的缺陷检测装置还具有报知部，该报知部通过输出装置报知由所述检测部检测出的缺陷形态。

3.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为凹凸状且尺寸为300μm以上的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是接合异物。

4.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为黑点、尺寸为100μm以上且小于540μm、面积为90μm²以上且1140μm²以下、ΔX为120μm以上且780μm以下、ΔY为210μm以下、厚度小于66μm且峰值小于20的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是接合气泡。

5.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为黑点、尺寸为160μm以下、面积为300μm²以下且ΔX为150μm以下的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是异物。

6.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为白点、峰值为16以上且ΔY为450μm以下的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是亮点。

7.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为白点、ΔX为105μm以下、ΔY为150μm以上且峰值为50以下的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是刮痕。

8.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在缺陷类型为白点、ΔX与ΔY之间的差分为45μm以上、峰值为16以上、ΔX为420μm以下、ΔY为1260μm以下且密度为7.5以下的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是集群性亮点。

9.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在峰值为50以上、密度为6.75以下、厚度为42μm以上且ΔX为150μm以上的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是一条线。

10.根据权利要求1或2所述的偏光膜的缺陷检测装置，其特征在于，

所述检测部在不能检测出接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的任意一种缺陷形态而跳过的情况下，再次检测其它缺陷形态。

11.一种偏光膜缺陷检测方法，其特征在于，该偏光膜缺陷检测方法包含如下步骤：

接收由自动光学检查机检查出的针对偏光膜的检查结果；以及

分析所述检查结果，检测偏光膜的缺陷，

在检测所述缺陷的步骤中，根据缺陷类型、ΔX、ΔY、面积、密度、尺寸、峰值、厚度中的两个以上的参数，判别所述偏光膜的缺陷形态是接合异物、接合气泡、异物、亮点、刮痕、集群性亮点、一条线中的至少任意一种。

12.根据权利要求11所述的偏光膜缺陷检测方法，其特征在于，

在所述偏光膜缺陷检测方法中，还包含如下步骤：通过输出装置报知所述检测出的缺陷形态。

13.根据权利要求11或12所述的偏光膜缺陷检测方法，其特征在于，

在所述检测步骤中，在缺陷类型为凹凸状且尺寸为300μm以上的情况下，判别为所述偏光膜的缺陷形态是接合异物。