[发明专利]用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置有效
| 申请号： | 201410767646.2 | 申请日： | 2014-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN104515906B | 公开（公告）日： | 2018-01-12 |
| 发明（设计）人： | 邓莉莉;刘媛;张望远 | 申请（专利权）人： | 上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26;G01R1/18 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司31001 | 代理人： | 翁若莹 |
| 地址： | 200043 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 滤波器 抑制 特性 测量 长度 连续 变化 试验装置 | ||
1.一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，包括带有盖子（8）的本体（5），其特征在于：在本体（5）的左右两端分别设有可脱离本体（5）的屏蔽箱一（6）及屏蔽箱二（7），屏蔽箱一（6）与本体（5）滑动配合使屏蔽箱一（6）能够沿本体（5）的长度方向位置连续可调，屏蔽箱二（7）可拆卸地固定在本体（5）的端壁上，所述屏蔽箱一（6）与所述本体（5）相接触的两个面分别向外延伸形成延伸壁（9），在所述延伸壁（9）上加装有泡棉。
2.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述本体（5）采用黄铜材质。
3.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述本体（5）的端壁与所述本体（5）的其他部分之间为无缝焊接。
4.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述本体（5）、所述屏蔽箱一（6）及所述屏蔽箱二（7）具有足够的厚度以保证重复使用而不会变形。
5.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述屏蔽箱二（7）面向所述本体（5）的端面上伸出有内部连接端子二（11），在所述本体（5）的端壁上开有供内部连接端子二（11）穿入的安装孔（12）；所述屏蔽箱二（7）背向所述本体（5）的端面上伸出有外部连接端子二；内部连接端子二（11）及外部连接端子二为同轴射频接头N母头加SMA母头。
6.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述屏蔽箱一（6）背向所述本体（5）的端面上伸出有外部连接端子一（13）；所述屏蔽箱一（6）面向所述本体（5）的端面上伸出有内部连接端子一；内部连接端子一及外部连接端子一（13）为同轴射频接头N母头加SMA母头。
7.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述本体（5）的盖子（8）与所述本体（5）的壁之间加装簧片。
8.如权利要求1所述的一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，其特征在于：所述本体（5）的内壁上有对称的刻度标识（10）。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院，未经上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410767646.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
