[发明专利]用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于测量通用滤波器的插入损耗的长度可连续变化的试验装置，用于无源EMC通用滤波器插入损耗的测试。

背景技术

无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法的最新标准为GB/T 7343-201X《无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法》(即将发布)及国际标准CISPR 17-2011《Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC filtering devices》，无源EMC通用滤波器件插入损耗的测量方法参数按照第5章的要求进行测量，测量布置见图1，包括信号发生器1、测量接收机2、试验装置3及待测滤波器4。

按照标准的要求，无源EMC通用滤波器件测量插入损耗时，需要将其放置在试验装置中。标准GB/T 7343-201X及CISPR 17-2011的附录B中，有对该试验装置的规范要求。如下：对输入端和输出端没有屏蔽层和同轴端口的干扰抑制元件和滤波器，应将其放置在试验装置中进行测量，试验装置的尺寸(例如长度1，高度h和宽度w)取决于DUT。用非磁性金属做成的试验装置要有一个金属盖。试验装置各部件的电接触应可靠，各个部件应用焊接或连续缝焊的方式连接；盖子和壳体通过弹簧触点或螺栓连接，同轴端口安装在两个箱壁上。通用滤波器试验装置的典型设计见图2A及图2B。选择尺寸比DUT尺寸略大一点的箱子，推荐值是B＝5cm，C＝5cm，D＝5cm。

为每一个通用滤波器量身定制一个严格满足标准要求的试验装置是不现实的，所以有些企业已经设计出长度可调的试验装置。试验方法是，盒子的一个侧壁做成活动板，盒子内部每隔一定距离开一对槽。这样，在测量不同大小的滤波器时，可以将侧壁装入不同的槽来大概调节试验装置的大小。所以，这种试验装置能获得的几个试验装置的长度是固定的，不能做到长度的连续变化。

发明内容

本发明的目的是为无源EMC通用滤波器件测量提供一种长度连续可调的试验装置。

为了达到上述目的，本发明的技术方案是提供了一种用于滤波器抑制特性测量的长度可连续变化的试验装置，包括带有盖子的本体，其特征在于：在本体的左右两端分别设有可脱离本体的屏蔽箱一及屏蔽箱二，屏蔽箱一与本体滑动配合使屏蔽箱一能够沿本体的长度方向位置连续可调，屏蔽箱二可拆卸地固定在本体的端壁上。

优选地，所述本体采用黄铜材质。

优选地，所述本体的端壁与所述本体的其他部分之间为无缝焊接。

优选地，所述本体、所述屏蔽箱一及所述屏蔽箱二具有足够的厚度以保证重复使用而不会变形。

优选地，所述屏蔽箱一与所述本体相接触的两个面分别向外延伸形成延伸壁。

优选地，在所述延伸壁上加装有泡棉。

优选地，所述屏蔽箱二面向所述本体的端面上伸出有内部连接端子二，在所述本体的端壁上开有供内部连接端子二穿入的安装孔；所述屏蔽箱二背向所述本体的端面上伸出有外部连接端子二；内部连接端子二及外部连接端子二为同轴射频接头N母头加SMA母头。

优选地，所述屏蔽箱一背向所述本体的端面上伸出有外部连接端子一；所述屏蔽箱一面向所述本体的端面上伸出有内部连接端子一；内部连接端子一及外部连接端子一为同轴射频接头N母头加SMA母头。

优选地，所述本体的盖子与所述本体的壁之间加装簧片。

优选地，所述本体的内壁上有对称的刻度标识。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1、本发明的试验装置长度连续可调，对于不同长度的滤波器可设定满足标准要求的试验装置长度；

2、本发明的可移动的屏蔽箱的延伸壁可保证试验装置本体的屏蔽性能；

3、本发明的试验装置两端的两个屏蔽箱的设计灵活，可测量能放入试验装置本体的滤波器，也可在屏蔽室中测量大尺寸的滤波器；

4、本发明的试验装置两端的两个屏蔽箱上的4个连接端子设计既可满足差模模式插入损耗的测量也可满足共模模式插入损耗的测量；

5、相对于为每一个长度不同的滤波器设计符合标准要求的试验装置的高昂成本，本发明在满足标准尺寸要求的基础上极大降低了试验成本。

附图说明

图1为滤波器插入损耗测量布置图；

图2A为标准要求的滤波器试验装置尺寸的正视图；

图2B为标准要求的滤波器试验装置尺寸的俯视图；

图3为滤波器试验装置示意图。

具体实施方式