[发明专利]一种测试电路、阵列基板及显示装置

权利要求书

1.一种测试电路，用于测试一包括多条数据线的像素阵列，所述测试电路包括第一测试总线、第二测试总线和至少一个第一晶体管；

所述第一测试总线和所述第二测试总线分别用于向所述多条数据线中的不同数据线提供不同的测试信号；

每个所述第一晶体管的栅极电连接一个控制端，所述第一晶体管的第一极电连接所述第一测试总线，所述第一晶体管的第二极电连接所述第二测试总线；

所述第一晶体管在测试阶段处于关态。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试阶段，所述控制端电连接固定电位使所述第一晶体管处于关态，所述第一测试总线和所述第二测试总线在同一时刻的电位极性相反；

在掉电时，所述第一晶体管的栅极浮置，所述测试电路通过所述第一晶体管的漏电流中和所述第一测试总线和所述第二测试总线上的电荷。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，在测试阶段，所述第一测试总线上接入的第一测试信号与所述第二测试总线上接入的第二测试信号互为反相信号。

4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，在测试完成后，所述第一测试总线与所述第一测试总线对应的数据线的电连接通路被断开；所述第二测试总线与所述第二测试总线对应的数据线的电连接通路被断开。

5.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一晶体管为P沟道型晶体管或N沟道型晶体管。

6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括至少两个所述第一晶体管，其中，至少一个所述第一晶体管为P沟道型晶体管，或者至少一个所述第一晶体管为N沟道型晶体管。

7.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一晶体管的宽长比大于或等于40/5。

8.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一晶体管的宽长比小于或等于60/5。

9.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第二晶体管和第三晶体管，所述数据线包括第一数据线和第二数据线；

所述第二晶体管的第一极电连接所述第一数据线，所述第二晶体管的第二极电连接所述第一测试总线；

所述第三晶体管的第一极电连接所述第二数据线，所述第三晶体管的第二极电连接所述第二测试总线。

10.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述第一数据线为奇数列数据线，所述第二数据线为偶数列数据线。

11.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第一测试端，所述第二晶体管的栅极和所述第三晶体管的栅极电连接所述第一测试端；

所述第一测试端在测试阶段控制所述第二晶体管和所述第三晶体管开启，所述第一测试端在掉电时浮置。

12.如权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第一测试端和第二测试端，所述第二晶体管的栅极电连接所述第一测试端，所述第三晶体管的栅极电连接所述第二测试端；

所述第一测试端在测试阶段控制所述第二晶体管开启、所述第二测试端在测试阶段控制所述第三晶体管开启，所述第一测试端和所述第二测试端在掉电时浮置。

13.一种阵列基板，包括多条数据线、多条与所述数据线交叉的栅极线和由所述扫描线和数据线围合形成的像素区域，所像素区域排列为像素阵列；在所述像素阵列的至少一侧设置如权利要求1至12任一项所述的测试电路。

14.一种显示装置，包括如权利要求13所述的阵列基板以及与所述阵列基板对置设置的彩膜基板，所述显示装置还包括液晶层，所述液晶层位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间。