[发明专利]一种测试电路、阵列基板及显示装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示领域，特别涉及一种测试电路、包括该测试电路的阵列基板以及包括该阵列基板的显示装置。

背景技术

近些年来，有源矩阵型显示装置得到普及，例如，广泛应用在移动电话、平板电脑、MP3、MP4等移动设备中。为保证产品的质量，显示面板在出厂前一般会进行电学测试，图1示出了现有技术中的测试方式。如图1所示，包括像素阵列20和用于测试像素阵列20的两条测试线DO和DE，像素阵列20包括多条扫描线12、多条数据线13和多个开关器件14；像素电极15位于扫描线12与数据线13相交限定了像素区域，呈阵列排布。两条测试线DO和DE分别电连接数据线13，为其提供测试信号。

在现有技术中，若在测试阶段突然掉电，画面会出现残像；而且由于残留电荷对液晶的极化，在通电后的显示中也会出现画面抖动。

发明内容

本发明的实施例所要解决的技术问题是现有技术中由于电学测试中突然掉电造成的画面出现残像和抖动的问题。

在现有技术中，当电学测试阶段突然掉电时，像素阵列20和测试线DO与DE电荷释放较慢，导致了电荷残留在像素阵列20从而导致了液晶极化，画面出现残像和抖动。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种测试电路，用于测试一包括多条数据线的像素阵列，包括第一测试总线、第二测试总线和至少一个第一晶体管；

所述第一测试总线和所述第二测试总线分别用于向所述多条数据线中的不同数据线提供不同的测试信号；

每个所述第一晶体管的栅极电连接一个控制端，所述第一晶体管的第一极电连接所述第一测试总线，，所述第一晶体管的第二极电连接所述第二测试总线；

所述第一晶体管在测试阶段处于关态。

本发明提供的测试电路，在测试阶段控制第一晶体管处于关态，不会影响电路的正常测试，在掉电时，不再第一测试总线、所述第二测试总线和第一测试端相应的信号，在第一测试总线和第二测试总线的第一晶体管由于栅极浮置，处于不稳定状态，其有一定的漏电流，在第一测试总线和第二测试总线之间形成一定的通路，可加快电荷的消散速度，避免液晶被极化。

本发明还提供一种阵列基板，包括多条数据线、多条与所述数据线交叉的栅极线和由所述扫描线和数据线围合形成的像素区域，所像素区域排列为像素阵列；在所述像素阵列的至少一侧设置如本发明实施例提供的测试电路。

本发明还提供一种显示装置，包括本发明提供的阵列基板以及与所述阵列基板对置设置的彩膜基板，所述显示装置还包括液晶层，所述液晶层位于所述阵列基板与所述彩膜基板之间。本发明提供的阵列基板和显示装置，由于其包括本发明提供的测试电路，既可以对阵列基板进行电学检测以保证产品质量，又解决了由于电学检测时掉电导致的液晶极化带来的画面抖动的问题。

附图说明

图1为现有技术中阵列基板的电学测试图；

图2为本发明实施例提供的一种测试电路图；

图3为本发明实施例提供的另一种测试电路图；

图4为本发明实施例提供的再一种测试电路图；

图5为图4中测试电路在测试阶段的时序图；

图6为图4中测试电路各端口的电压变化图；

图7为本发明实施例提供的一种测试完成后测试电路图；

图8A为本发明实施例提供的另一种测试电路图；

图8B为本发明实施例提供的再一种测试电路图；

图9为本发明实施例提供的电荷消散效果对比图；

图10为本发明实施例提供的一种阵列基板俯视图；

图11为本发明实施例提供的一种显示装置的侧视图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是本发明还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。

如图2所示，本发明实施例提供一种测试电路10，用于测试一包括多条数据线22的像素阵列20，包括第一测试总线DO、第二测试总线DE和至少一个第一晶体管T1；第一测试总线DO和第二测试总线DE分别用于向多条数据线22中的不同数据线提供不同的测试信号。第一测试总线DO和第二测试总线DE可以通过直接电连接多条数据线22中的不同数据线以提供信号，也可以通过其他电学元件间接电连接多条数据线22中的不同数据线以提供信号。