[发明专利]天线阻挡检测

权利要求书

1.一种天线阻挡检测的系统，包含：

具有基板和设置在基板上的多个天线元件的天线；

处理设备，其配置为测量整个天线孔径的孔径函数，所述孔径函数包括布置在数据立方体中的距离数据、速度数据和角度偏移数据，并且通过对数据立方体中数据的快速傅立叶变换技术，至少部分地基于测量的孔径函数确定天线元件中的至少一个是否被阻挡。

2.根据权利要求1所述的系统，其中处理设备配置为，如果从测量的孔径函数中获得的辐射方向图被扭曲，那么确定至少一个天线元件被阻挡。

3.根据权利要求1所述的系统，其中处理设备配置为从测量的孔径函数中获得辐射方向图，辐射方向图具有旁瓣。

4.根据权利要求3所述的系统，其中处理设备配置为基于获得的辐射方向图的旁瓣电平确定至少一个天线元件是否被阻挡。

5.根据权利要求1所述的系统，其中孔径函数至少部分地基于整个天线孔径的相位级数和振幅级数。

6.一种天线阻挡检测的方法，包含：

测量整个天线孔径的孔径函数，所述孔径函数包括布置在数据立方体中的距离数据、速度数据和角度偏移数据；以及

通过对数据立方体中数据的快速傅里叶变换技术，至少部分地基于测量的孔径函数确定至少一个天线元件是否被阻挡。

7.根据权利要求6所述的方法，其中确定至少一个天线元件是否被阻挡包括，确定一个或多个测量的相位级数和测量的振幅级数是否是非线性的或明显偏离期望的级数。

8.根据权利要求6所述的方法，其中确定至少一个天线元件是否被阻挡包括：

从孔径函数中获得辐射方向图；

预测得到的辐射方向图中的波束旁瓣电平；以及

比较预测的波束旁瓣电平和实际的旁瓣电平。

9.根据权利要求8所述的方法，其中至少部分地基于预测的波束旁瓣电平确定至少一个天线元件是否被阻挡。

10.根据权利要求6所述的方法，其中至少部分地基于从孔径函数中确定的相位级数和振幅级数中的至少一个来确定至少一个天线元件是否被阻挡。