[发明专利]一种嵌入式系统的调试方法及装置在审

专利信息
申请号: 201410784867.0 申请日: 2014-12-17
公开(公告)号: CN105760289A 公开(公告)日: 2016-07-13
发明(设计)人: 刘立伟 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 梁军
地址: 518057 广东省深圳市南山*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 嵌入式 系统 调试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种嵌入式系统的调试方法,其特征在于,包括:

根据用户输入的调试指令,向上位机发送地址解析请求,所述地址解析请求中携带调试对象的名称;

接收来自所述上位机的地址解析结果,所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址;

根据所述地址解析结果,调用所述调试对象。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调试对象包括调试函数或调试变量。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述调试对象为调试函数,所述调试指令包括所述调试函数的参数;

所述根据所述地址解析结果,调用所述调试对象具体包括:

根据所述地址解析结果和所述参数,调用所述调试对象。

4.一种嵌入式系统的调试方法,其特征在于,包括:

接收来自下位机的地址解析请求;所述地址解析请求中携带调试对象的名称;

根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址;

将所述存储地址作为地址解析结果向所述下位机发送。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址包括:

根据所述调试对象的名称在符号表中查找所述调试对象在下位机中的存储地址。

6.一种嵌入式系统的调试装置,其特征在于,包括:

第一发送单元,用于根据用户输入的调试指令,向上位机发送地址解析请求,所述地址解析请求中携带调试对象的名称;

第一接收单元,用于接收来自所述上位机的地址解析结果,所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址;

调用单元,用于根据所述地址解析结果,调用所述调试对象。

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述调试对象包括调试函数或调试变量。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述调试对象为调试函数,所述调试指令包括所述调试函数的参数;

所述调用单元,具体用于根据所述地址解析结果和所述参数,调用所述调试函数。

9.一种嵌入式系统的调试装置,其特征在于,包括:

第二接收单元,用于接收来自下位机的地址解析请求;所述地址解析请求中携带调试对象的名称;

解析单元,用于根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址;

第二发送单元,用于将所述存储地址作为地址解析结果向所述下位机发送。

10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述解析单元,具体用于根据所述调试对象的名称在符号表中查找所述调试对象在下位机中的存储地址。

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