[发明专利]一种嵌入式系统的调试方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及嵌入式技术领域，特别是涉及一种嵌入式系统的调试方法及装置。

背景技术

微波器件等嵌入式系统的MCU(MicroControlUnit，微控制单元)，通常使用一些开源免费的操作系统，如freeRTOS。基于这些操作系统的程序，需要首先在上位机(PC)侧将程序编译、连接，形成可执行文件后下载到MCU上。

由于MCU的资源空间非常有限，记载可执行文件中的函数名与函数存储地址关系的符号表无法存储在MCU中。这样，在对MCU的程序调试的过程中，只能在上位机侧编写变量输出指令，然后对程序重新编译连接、烧写、运行后才能查看到某个变量的值，调试效率很低。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种嵌入式系统的调试方法及装置，用以解决现有技术中嵌入式系统调试效率低下的问题。

一方面，本发明提供一种嵌入式系统的调试方法，包括：根据用户输入的调试指令，向上位机发送地址解析请求，所述地址解析请求中携带调试对象的名称；接收来自所述上位机的地址解析结果，所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址；根据所述地址解析结果，调用所述调试对象。

可选的，所述调试对象包括调试函数或调试变量。

可选的，所述调试对象为调试函数，所述调试指令包括所述调试函数的参数；所述根据所述地址解析结果，调用所述调试对象具体包括：根据所述地址解析结果和所述参数，调用所述调试对象。

另一方面，本发明还提供一种嵌入式系统的调试方法，包括：接收来自下位机的地址解析请求；所述地址解析请求中携带调试对象的名称；根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址；将所述存储地址作为地址解析结果向所述下位机发送。

可选的，所述根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址包括：根据所述调试对象的名称在符号表中查找所述调试对象在下位机中的存储地址。

另一方面，本发明还提供一种嵌入式系统的调试装置，包括：第一发送单元，用于根据用户输入的调试指令，向上位机发送地址解析请求，所述地址解析请求中携带调试对象的名称；第一接收单元，用于接收来自所述上位机的地址解析结果，所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址；调用单元，用于根据所述地址解析结果，调用所述调试对象。

可选的，所述调试对象包括调试函数或调试变量。

可选的，所述调试对象为调试函数，所述调试指令包括所述调试函数的参数；所述调用单元，具体用于根据所述地址解析结果和所述参数，调用所述调试函数。

另一方面，本发明还提供一种嵌入式系统的调试装置，包括：第二接收单元，用于接收来自下位机的地址解析请求；所述地址解析请求中携带调试对象的名称；解析单元，用于根据所述调试对象的名称解析所述调试对象在下位机中的存储地址；第二发送单元，用于将所述存储地址作为地址解析结果向所述下位机发送。

可选的，所述解析单元，具体用于根据所述调试对象的名称在符号表中查找所述调试对象在下位机中的存储地址。

本发明实施例提供的嵌入式系统的调试方法及装置，当进行调试时，能够向上位机发送地址解析请求，在该地址请求中携带调试对象的名称，通过上位机对该调试对象进行地址解析后，即可以根据解析结果直接在下位机中找到调试对象的存储地址，从而能够通过调用该调试对象实现对下位机程序的调试，大大减少了开发和调试时间，有效提高了调试效率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的嵌入式系统的调试方法的一种流程图；

图2是本发明实施例提供的嵌入式系统的调试方法的另一种流程图；

图3是本发明实施例提供的嵌入式系统的调试方法的一种详细流程图；

图4是本发明实施例提供的嵌入式系统的调试装置的一种结构示意图；

图5是本发明实施例提供的嵌入式系统的调试装置的另一种结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明进行详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不限定本发明。

如图1所示，本发明实施例提供一种嵌入式系统的调试方法，基于下位机，该方法可包括：

S11，根据用户输入的调试指令，向上位机发送地址解析请求，所述地址解析请求中携带调试对象的名称；

S12，接收来自所述上位机的地址解析结果，所述地址解析结果包括所述调试对象在下位机中的存储地址；

S13，根据所述地址解析结果，调用所述调试对象。