[发明专利]一种红外光源及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410785061.3 申请日: 2014-12-16
公开(公告)号: CN104576860A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 纪新明 申请(专利权)人: 太仓微芯电子科技有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/20;H01L33/38;H01L33/00
代理公司: 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人: 成丽杰
地址: 215400 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 光源 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种红外光源,其特征在于,包含:衬底、反射层、支撑体与图形化电极;

所述反射层淀积在所述衬底之上;所述支撑体形成在所述反射层上;所述图形化电极淀积在所述支撑体上,

其中,所述支撑体的横截面的图形与所述图形化电极的图形相同且重合。

2.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述支撑体的厚度大于6微米。

3.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述支撑体采用二氧化硅SiO2

4.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述反射层采用铝Al、金Au或者银Ag。

5.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述图形化电极的材料为以下任意一种:

铂金、镍铬合金、硅化钨WSi、氮化钛TiN或者多晶硅。

6.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述衬底采用单晶硅。

7.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,还包含隔离热绝缘层;

所述隔离热绝缘层在所述衬底与所述反射层之间。

8.根据权利要求7所述的红外光源,其特征在于,所述隔离热绝缘层采用二氧化硅。

9.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,还包含钝化吸收层;

所述钝化吸收层淀积在每一个所述图形化电极上。

10.根据权利要求9所述的红外光源,其特征在于,所述钝化吸收层的材料为以下任意一种:

氮化硅、氧化硅、氮化钛、金黑或者铂黑。

11.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述衬底的中间部分被挖空;其中,所述衬底的中间部分位于所述支撑体的下方。

12.一种红外光源的制备方法,其特征在于,包含以下步骤:

提供衬底;

在所述衬底上淀积反射层薄膜;

在所述反射层薄膜上淀积支撑层薄膜;

在所述支撑层薄膜上淀积图形化电极;

刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体;

其中,所述支撑体的横截面的图形与所述图形化电极的图形相同且重合。

13.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,所述支撑层薄膜的材料为二氧化硅SiO2

14.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述衬底上淀积反射层薄膜的步骤中,包含以下子步骤:

在所述衬底上淀积隔离热绝缘层薄膜;

在所述隔离热绝缘层薄膜上淀积反射层薄膜。

15.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体的步骤之后,包含以下步骤:

在所述图形化电极上淀积钝化吸收层。

16.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体的步骤之后,还包含以下步骤:

挖空支撑体下方的衬底。

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