[发明专利]一种红外光源及其制备方法在审
申请号: | 201410785061.3 | 申请日: | 2014-12-16 |
公开(公告)号: | CN104576860A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 纪新明 | 申请(专利权)人: | 太仓微芯电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/10 | 分类号: | H01L33/10;H01L33/20;H01L33/38;H01L33/00 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 215400 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 光源 及其 制备 方法 | ||
1.一种红外光源,其特征在于,包含:衬底、反射层、支撑体与图形化电极;
所述反射层淀积在所述衬底之上;所述支撑体形成在所述反射层上;所述图形化电极淀积在所述支撑体上,
其中,所述支撑体的横截面的图形与所述图形化电极的图形相同且重合。
2.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述支撑体的厚度大于6微米。
3.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述支撑体采用二氧化硅SiO2。
4.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述反射层采用铝Al、金Au或者银Ag。
5.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述图形化电极的材料为以下任意一种:
铂金、镍铬合金、硅化钨WSi、氮化钛TiN或者多晶硅。
6.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述衬底采用单晶硅。
7.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,还包含隔离热绝缘层;
所述隔离热绝缘层在所述衬底与所述反射层之间。
8.根据权利要求7所述的红外光源,其特征在于,所述隔离热绝缘层采用二氧化硅。
9.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,还包含钝化吸收层;
所述钝化吸收层淀积在每一个所述图形化电极上。
10.根据权利要求9所述的红外光源,其特征在于,所述钝化吸收层的材料为以下任意一种:
氮化硅、氧化硅、氮化钛、金黑或者铂黑。
11.根据权利要求1所述的红外光源,其特征在于,所述衬底的中间部分被挖空;其中,所述衬底的中间部分位于所述支撑体的下方。
12.一种红外光源的制备方法,其特征在于,包含以下步骤:
提供衬底;
在所述衬底上淀积反射层薄膜;
在所述反射层薄膜上淀积支撑层薄膜;
在所述支撑层薄膜上淀积图形化电极;
刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体;
其中,所述支撑体的横截面的图形与所述图形化电极的图形相同且重合。
13.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,所述支撑层薄膜的材料为二氧化硅SiO2。
14.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述衬底上淀积反射层薄膜的步骤中,包含以下子步骤:
在所述衬底上淀积隔离热绝缘层薄膜;
在所述隔离热绝缘层薄膜上淀积反射层薄膜。
15.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体的步骤之后,包含以下步骤:
在所述图形化电极上淀积钝化吸收层。
16.根据权利要求12所述的红外光源的制备方法,其特征在于,在所述刻蚀掉所述支撑层薄膜上、所述图形化电极之外的部分,得到支撑体的步骤之后,还包含以下步骤:
挖空支撑体下方的衬底。
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