[发明专利]一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统

权利要求书

1.一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，包括：光学与毫米波共用的主镜天线、次镜反射面、高效分频元件、光学接收系统、毫米波雷达收发系统；

所述光学与毫米波共用的主镜天线为凹面，其口径大于400mm，中心设有用于安装光电接收系统或毫米波雷达收发系统的开孔；

所述次镜反射面为凸面；

所述的高效分频元件为反光学透毫米波方案时：毫米波馈源、收发转换开关、接收机及发射机设置于主镜天线中心的后端，光学系统及光电探测器与主镜中心非共轴放置；反光学透毫米波分频元件基底为非导电材料，通过镀介质膜实现对光学波段90％以上的高反射率及对毫米波波段95％以上的透过率；

所述的高效分频元件为反毫米波透光学方案时：反毫米波透光学分频元件采用金属网格形状，毫米波的反射率在95％以上，光学波段的透过率在80％以上；

所述光学接收系统，根据光学谱段的选择而不同，如果只需接收单一光学谱段，则在一次像面后端设置光学系统进行二次成像，成像于相应谱段的光电探测器上；如需接收多光谱的光学信号，则在光路中设置分色镜，使不同谱段的光线经过各自的光学系统成像于对应的光电探测器上；

所述毫米波雷达收发系统包括：毫米波馈源、收发转换开关、接收机及发射机；所述发射机产生的电磁波，经收发转换开关传输给主镜天线；接收机将接收的信号交予信号处理机进行数据处理获得待测目标的相关参数；

光学/毫米波信号入射到主镜天线，反射到次镜反射面后，可再经高效分频元件，使光线与毫米波传输路径分开，进入各自的接收系统。

2.根据权利要求1所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，主镜天线的基底材料为碳化硅或微晶材料。

3.根据权利要求1所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，所述主镜天线和次镜反射面的表面镀有金属膜层。

4.根据权利要求3所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，所述金属膜层为铝或银膜。

5.根据权利要求3或4所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，所述金属膜层的厚度为趋肤深度3到5倍。

6.根据权利要求1所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，所述主镜天线和次镜反射面的面型均为二次曲面。

7.根据权利要求1所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，所述主镜天线和次镜反射面的基底材料为碳化硅、微晶或碳纤维材料。

8.根据权利要求1-7中任一所述的光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统，其特征在于，高效分频元件为反光学透毫米波方案时，

基底材料为K9或熔石英玻璃；

介质膜高折射率材料为二氧化钛、五氧化二钽或H4；

介质膜低折射率材料氟化镁或二氧化硅。