[发明专利]一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统有效

专利信息
申请号: 201410796336.3 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN104502909A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 余毅;乔彦峰;蔡盛;何锋赟;刘韬 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01S13/86 分类号: G01S13/86
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所22210 代理人: 张伟
地址: 130033吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 毫米波 雷达 孔径 复合 探测 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及靶场测量、空间目标探测及多模共孔径复合制导技术,属于光学与雷达探测技术的交叉领域,特别涉及一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统。

背景技术

随着目标探测需求的提高,对探测系统的性能提出了更高的要求,光学探测设备具有高分辨率、测角精度高等特点,但其受天气影响大,无法给出距离及速度信息;雷达具备测距、测速、全天候工作能力,但其无法实现高分率成像。单一模式的探测系统都存在其固有的局限,将两种模式或者多种模式复合在一起的复合探测系统能够发挥不同模式的优势形成互补。光学与毫米波雷达共口径复合探测系统中,光学与毫米波雷达设备由于共用了伺服系统和主镜天线,简化了硬件设备,提高了系统的集成性,对于靶场目标测量而言,使单站设备实现对雷达信号与光学信号的同时采集与处理,而对于导引头、卫星及飞机载荷而言,体积和外形尺寸都有严格的要求,又需要光学和雷达设备合作探测,光学雷达共孔径复合探测同样能够很好的解决体积限制问题。光学与毫米波雷达共口径复合探测系统将光学与雷达探测体制进行优势互补,提升了设备的集成性、环境适应性及单站设备的目标识别能力。

70年代末期,美国、前苏联等国开始研制微波/红外双模系统。微波雷达探测系统在比较弱的电磁环境中可以说是比较完美的,但是在复杂的电磁环境中,微波雷达探测系统的探测能力却受到了限制。本世纪以来共孔径复合探测中应用最为广泛的就为多模导引头的使用,美国陆军战术导弹系统(ATACMS)的BlockⅡA导弹采用红外/毫米波双模制导、标准20BlockⅣ防空导弹采用红外/微波双模制导,俄罗斯/马斯基特反舰导弹采用主/被动雷达复合制导,欧美国家多种末制导弹或末敏弹也采用多模复合制导方式。

在众多的多模导引头光电探测设备中,由于毫米波雷达具有许多优点,特别是毫米波器件体积小,便于小型化,这对于导弹提高精度且轻巧装载具有决定意义。目前,毫米波/红外双模制导已成为多模复合制导技术的发展重点。其中以主动毫米波+被动红外复合制导的导引头最为常见,美国洛马公司提出的方案可分为毫米波前馈、毫米波后馈。方案中毫米波系统波段为94GHz,采用卡塞格林天线,频率步进体制,单脉冲测角(一路发射,四路接收),红外系统采用128×128红外焦平面阵列探测器。

国内近些年也在开展光雷复合探测技术的研究,目前还未有光雷共孔径复合探测设备的应用报道。其中长春光机所在2010年为某基地战区反导任务研制了光学雷达一体化设备(非共口径测量设备)。

目前国内外光学与雷达共孔径复合探测设备主要应用于导引头制导领域,由于体积限制导致其共用的主镜天线尺寸受到限制,其光学系统分辨率较低及雷达系统探测距离较短。而对于靶场与空间目标测量领域,光学系统分辨率及雷达探测距离均有很高要求,但国内外未有关于大口径光学与毫米波雷达复合探测设备的报道。

上述光学与雷达共口径复合探测装置具有如下缺点:1.共口径复合探测设备的主镜天线尺寸小,导致光学系统分辨率低雷达系统探测距离短的问题;2.光学工作波段窄,由于高效分频元件的限制,多采用中波及长波红外,无法实现多光谱复合探测。

发明内容

本发明要解决现有技术中的技术问题,提供一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统。

为了解决上述技术问题,本发明的技术方案具体如下:

一种光学与毫米波雷达共孔径复合探测系统,包括:光学与毫米波共用的主镜天线、次镜反射面、高效分频元件、光学接收系统、毫米波雷达收发系统;

所述光学与毫米波共用的主镜天线为凹面,其口径大于400mm,中心设有用于安装光电接收系统或毫米波雷达收发系统的开孔;

所述次镜反射面为凸面;

所述的高效分频元件为反光学透毫米波方案时:毫米波馈源、收发转换开关、接收机及发射机设置于主镜天线中心的后端,光学系统及光电探测器与主镜中心非共轴放置;反光学透毫米波分频元件基底为非导电材料,通过镀介质膜实现对光学波段90%以上的高反射率及对毫米波波段95%以上的透过率;

所述的高效分频元件为反毫米波透光学方案时:反毫米波透光学分频元件采用金属网格形状,毫米波的反射率在95%以上,光学波段的透过率在80%以上;

所述光学接收系统,根据光学谱段的选择而不同,如果只需接收单一光学谱段,则在一次像面后端设置光学系统进行二次成像,成像于相应谱段的光电探测器上;如需接收多光谱的光学信号,则在光路中设置分色镜,使不同谱段的光线经过各自的光学系统成像于对应的光电探测器上;

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