[发明专利]一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统，其特征在于，包括热源、红外热像传感器、数字图像采卡、计算机；

热源用于加热磁瓦；

红外热像传感器用于对采集加热后的磁瓦的红外热像图像；

计算机用于对磁瓦的红外热像图像进行处理，并对磁瓦缺陷进行分析。

2.如权利要求1所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统，其特征在于，所述热源为热风机。

3.如权利要求1所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统，其特征在于，所述热源对磁瓦的加热温度高于环境温度30℃以上。

4.如权利要求书1~3中任一项所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，包含下列步骤：

步骤一：热源加热磁瓦，加热温度高于环境温度30℃以上；

步骤二：红外热像传感器采集磁瓦表面红外热像图像，并传输给计算机；

步骤三：计算机分析磁瓦缺陷。

5.如权利要求书4所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，步骤一中磁瓦被加热面及其背面温度相差至少在10℃以上。

6.如权利要求书4或5所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，步骤二中，磁瓦加热后，在常温下保持约5~20秒钟后红外热像传感器再采集磁瓦表面红外热像图像。

7.如权利要求书6所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，步骤二中，磁瓦加热后，在常温下保持约5~10秒钟后红外热像传感器再采集磁瓦表面红外热像图像。

8.如权利要求书4所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，步骤三中，计算机利用数字图像技术，通过对红外热像图像进行滤波增强、二值化及边缘提取、缺陷识别对磁瓦缺陷进行分析。

9.如权利要求书4所述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法，其特征在于，在步骤一之前对磁瓦进行预处理，所述预处理包括清洁待检测磁瓦表面，并进行温度平衡，待磁瓦表面温度均匀稳定后再加热。