[发明专利]一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统及检测方法在审
申请号: | 201410800824.7 | 申请日: | 2014-12-22 |
公开(公告)号: | CN104458765A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 李俊 | 申请(专利权)人: | 四川理工学院 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G06T7/00 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 韩雪;吴彦峰 |
地址: | 643000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 缺陷 红外 检测 系统 方法 | ||
技术领域
本发明属于红外技术领域,尤其涉及一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统及检测方法。
背景技术
磁性材料主要是指由过渡元素铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)及其合金等组成的能够直接或间接产生磁性的物质。磁瓦是永磁体中一种主要用于永磁电机定子上的瓦状磁铁。根据原材料主要分为铁氧体磁瓦、钕铁硼磁瓦、铝镍钴磁瓦。
电机磁瓦作为一种主要的新型功能材料,随着电子工业和汽车工业的迅速发展,磁瓦的需求量快速增长,我国因此成为了磁性材料的第一生产大国,而相关产品性能要求的不断提高对磁瓦性能的要求也越来越高。磁瓦的主要生产工序包括原料制备、球磨、成型、烧结、磨加工、清洗、质检和包装等。在磁瓦的生产过程中,受加工技术、材料、控制技术和不确定性等因素的制约,磁瓦内外表面或内部不可避免地易产生裂纹、起级、夹层、崩裂、溃烂或孔洞等缺陷,磁瓦生产的成品率一般在95% - 97%。
缺陷检测是磁瓦生产过程中品质检验的主要内容,直接影响到磁瓦的内在和外在品质,决定着电机及相关产品的使用性能。然而,在目前磁瓦生产工艺流程中,磁瓦缺陷检测均为人工目视检验,存在劳动强度大,检测效率低,容易漏检,影响身体健康;特别是微小裂纹与浅表划痕难于区别,误检率高,质量控制受到人为影响因素较大等缺点,这在一定程度上制约了磁瓦性能的提高。随着市场对高性能电机磁瓦需求的快速增长,急需加强对缺陷的在线快速检测与动态分析进行研究。
文献研究表明,国内外学者已在磁瓦生产工艺及配方和成型方面取得了大量的研究成果,无损检测检测与诊断技术在人体、金属材料、机器设备、集成电路等领域已有广泛的发展,主要的无损检测技术包括超声检测、X射线检测、激光全息检测、机器视觉等方法,部分应用领域甚至实现了在线自动检测。然而,由于磁瓦种类及缺陷的多样性和复杂性、磁瓦生产过程的动态特性、环境安全要求以及价格等因素影响,超声、射线等常用于金属材料产品的无损检测方法并不适合于电机磁瓦的缺陷检测,相关研究也较少,磁瓦缺陷自动检测技术的发展缓慢。
借助于人工目测缺陷检测原理,郑晓曦、殷国富等人提出采用白光光源,结合普通数字成像的机器视觉技术进行磁瓦缺陷检测,机器视觉技术与人工检测相比,不会产生人眼视觉疲劳,有着比人眼更高的精度和速度,是缺陷和质量在线快速自动检测的发展方向。然而,现有技术的缺陷检测和识别效果易受光照条件的影响,且只能检测材料的表面缺陷,而内部缺陷检测还是一个盲区。基于机器视觉技术的磁瓦缺陷检测存在的局限性,是阻碍磁瓦制造企业品质检验真正实现自动化的一大障碍。
根据热辐射理论,绝对温度零度以上的物体,是有能量辐射的。也即,对于常温下的任何物体,不论其温度高低都会发射或吸收热辐射,其大小除与物体材料种类、形貌特征、物理化学结构特征等因素有关外,还与波长、温度有关。利用物体的这种辐射特性可直接测量物体表面温度场,它能直接观察到人眼在可见光范围内无法观察到的物体外形轮廓或表面热分布。在一定的条件下,物体表面的温度场分布情况可以反映出物体表面及内部状态。与传统检测方法相比,它具有非接触测量、灵敏度高、反应速度快、使用安全、信号处理速度快、环境抗干扰能力强、易实现自动检测等优点。要实现磁瓦缺陷的无损检测,关键是使磁瓦表面及内部缺陷通过一定的方式转换成磁瓦表面温度场的局部不均匀分布,尚未有相关研究报道。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供了一种磁瓦缺陷的红外热像检测系统,包括热源、红外热像传感器、数字图像采卡、计算机;
热源用于加热磁瓦;
红外热像传感器用于对采集加热后的磁瓦的红外热像图像;
计算机用于对磁瓦的红外热像图像进行处理,并对磁瓦缺陷进行分析。
进一步的,所述热源为热风机。
进一步的,所述热源对磁瓦的加热温度高于环境温度30℃以上。
上述的磁瓦缺陷的红外热像检测系统的检测方法,其特征在于,包含下列步骤:
步骤一:热源加热磁瓦,加热温度高于环境温度30℃以上;
步骤二:红外热像传感器采集磁瓦表面红外热像图像,并传输给计算机;
步骤三:计算机分析磁瓦缺陷。
进一步的,,步骤一中磁瓦被加热面及其背面温度相差至少在10℃以上。
进一步的,步骤二中,磁瓦加热后,在常温下保持约5~20秒钟后红外热像传感器再采集磁瓦表面红外热像图像。
进一步的,步骤二中,磁瓦加热后,在常温下保持约5~10秒钟后红外热像传感器再采集磁瓦表面红外热像图像。
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