[发明专利]一种MCU的校准方法和系统

说明书

本发明公开了一种MCU的校准方法和系统，以解决由于应用环境变化影响MCU的运行，降低结果准确性的问题。其中方法包括：在MCU的出厂后应用时，MCU上电复位后，读取非易失性存储器中的测试校准信息，并将测试校准信息写入校准控制单元；MCU运行过程中，接收调节校准信息，将调节校准信息写入校准控制单元；利用测试校准信息和调节校准信息对待校准模块进行调节校准操作；判断在调节校准操作后，待校准模块是否满足预设的调节条件；若不满足，则返回接收调节校准信息，将调节校准信息写入校准控制单元的步骤。本发明能够实现对由于应用环境变化导致MCU中发生变化的参数的校准，避免对MCU运行效果产生影响，提高结果的准确性。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，特别是涉及一种MCU的校准方法和系统。

背景技术

MCU(Micro Control Unit，微控制单元)，又称SCM(Single Chip Microcomputer，单片微型计算机)或者单片机，是指随着大规模集成电路的出现及其发展，将计算机的CPU(Central Processing Unit，中央处理器)、RAM(Random Access Memory，随机存储器)、ROM(Read-Only Memory，只读存储器)、定时计数器和多种I/O接口集成在一片芯片上，形成芯片级的计算机，为不同的应用场合做不同组合控制。

在MCU制作中，一般需要对MCU进行一些测试(如扫描链测试，功能测试等)，剔除不合格芯片，保留性能满足要求的MCU。并且由于制作工艺的不确定性，芯片在一些性能上可能存在差异，因此还可以对MCU进行校准，将这些性能调节到设计范围之内。经过校准后的MCU即可出厂，出售给用户，用户即可使用这些MCU。

在MCU出厂前进行校准后，得到的校准信息需要一直保持不变，并且掉电不能丢失。在MCU出厂后，用户使用这些MCU时，即可利用上述校准信息对MCU中需要校准的模块进行校准操作，校准后即可正常使用该MCU。

但是，在用户使用MCU时，由于应用环境的不同，可能导致MCU里的器件参数不同，同样会导致MCU的一些性能出现偏差。例如RC晶振，由于电阻随着温度的提高阻值会变大，所以MCU在0℃环境和100℃环境下应用时，RC晶振的频率将有所不同。因此，在出厂后应用MCU的过程中，由于应用环境的变化导致MCU中某些模块对应的参数发生变化，从而影响MCU的运行效果，降低结果的准确性。

发明内容

本发明提供了一种MCU的校准方法和系统，以解决由于应用环境的变化导致MCU中某些模块对应的参数发生变化，从而影响MCU的运行效果，降低结果的准确性的问题。

为了解决上述问题，本发明公开了一种MCU的校准方法，所述MCU与非易失性存储器连接，所述MCU包括校准控制单元和待校准模块，所述非易失性存储器中存储有测试校准信息；

所述方法包括：

在所述MCU的出厂后应用时，所述MCU上电复位后，读取所述非易失性存储器中的测试校准信息，并将所述测试校准信息写入所述校准控制单元；

所述MCU运行过程中，接收调节校准信息，将所述调节校准信息写入所述校准控制单元；

利用所述测试校准信息和所述调节校准信息对所述待校准模块进行调节校准操作；

判断在调节校准操作后，所述待校准模块是否满足预设的调节条件；

若不满足预设的调节条件，则返回所述接收调节校准信息，将所述调节校准信息写入所述校准控制单元的步骤。

优选地，所述校准控制单元包括闪存校准寄存器，

所述将所述测试校准信息写入所述校准控制单元的步骤包括：

将所述测试校准信息写入所述校准控制单元中的闪存校准寄存器。