[发明专利]一种半导体芯片的制造方法在审

专利信息
申请号: 201410820428.0 申请日: 2014-12-25
公开(公告)号: CN104409583A 公开(公告)日: 2015-03-11
发明(设计)人: 田艳红;汪延明;许顺成;马欢 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;刘华联
地址: 423038 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 芯片 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体芯片的制造方法,包括以下步骤:

在衬底上依次层叠N型半导体层、有源层、P型半导体层从而制备外延片;

在所述外延片上沉积透明导电层;

对所述透明导电层、所述P型半导体层、所述有源层进行区域蚀刻,从而分别暴露出P型半导体层和N型半导体层;

在所暴露出的P型半导体层上制造P型电极,并且在所暴露出的N型半导体层上制造N型电极;

在经过上述步骤所得到的结构体上制造绝缘层,

其特征在于,在所述制造绝缘层的步骤中使用了紫外线固化胶。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述制造绝缘层的步骤包括以下步骤:

涂覆并烘烤紫外线固化胶;

将紫外线掩板放置在紫外线固化胶上方,并使用紫外线照射紫外线固化胶以固化紫外线固化胶;

除去未固化的紫外线固化胶。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所涂覆的紫外线固化胶的厚度约为500~3000nm。

4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,所述烘烤的温度约为80~90℃。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述烘烤的时间约为1~3分钟。

6.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,用于照射紫外线固化胶的所述紫外线的波长约为360~370nm。

7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述紫外线的曝光能量为3800~5500mj。

8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述紫外线的照射时间约为6~10秒。

9.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,使用乙醇来除去未固化的所述紫外线固化胶。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,将所述紫外线固化胶在所述乙醇中浸泡约1~3分钟。

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