[发明专利]紫外光谱图像处理方法及装置在审
申请号: | 201410822846.3 | 申请日: | 2014-12-25 |
公开(公告)号: | CN104463809A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 郭晶晶;许小京;李志刚;黎智辉;王永强;许磊;谢兰迟 | 申请(专利权)人: | 公安部物证鉴定中心 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 杨贝贝;黄健 |
地址: | 100038 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 紫外 光谱 图像 处理 方法 装置 | ||
1.一种紫外光谱图像处理方法,其特征在于,包括:
根据预先获得的校正参数校正待处理图像的长宽比;
确定所述待处理图像像素矩阵的线噪声干扰行和/或线噪声干扰列,根据所述线噪声干扰行和/或线噪声干扰列去除所述待处理图像的线噪声;
根据模糊来源对所述待处理图像进行去模糊处理,所述模糊来源包括散焦模糊和色散;
去除所述待处理图像的其他噪声,得到处理后的图像,所述其他噪声包括除所述线噪声之外的噪声。
2.根据权利要求1所述的紫外光谱图像处理方法,其特征在于,所述根据预先获得的校正参数校正待处理图像的长宽比之前,还包括:
获取与测试输入图像对应的测试输出图像;
对所述测试输入图像和所述测试输出图像进行差异对比分析,得到所述校正参数。
3.根据权利要求1或2所述的紫外光谱图像处理方法,其特征在于,所述根据预先获得的校正参数校正待处理图像的长宽比,包括:
采用三次样条算法,根据所述校正参数校正所述待处理图像的长宽比。
4.根据权利要求1所述的紫外光谱图像处理方法,其特征在于,所述确定所述待处理图像像素矩阵的线噪声干扰行和/或线噪声干扰列,包括:
遍历所述待处理图像像素矩阵的每一行,确定所述线噪声干扰行为元素值均为255的各个行;
遍历所述待处理图像像素矩阵的每一列,确定所述线噪声干扰列为元素值均为255的各个列。
5.根据权利要求4所述的紫外光谱图像处理方法,其特征在于,所述根据所述线噪声干扰行和/或线噪声干扰列去除所述待处理图像的线噪声,包括:
采用均值方法,根据所述线噪声干扰行和/或线噪声干扰列去除所述线噪声。
6.一种紫外光谱图像处理装置,其特征在于,包括:
长宽比校正模块,根据预先获得的校正参数校正待处理图像的长宽比;噪声处理模块,用于确定所述待处理图像像素矩阵的线噪声干扰行和/或线噪声干扰列,根据所述线噪声干扰行和/或线噪声干扰列去除所述待处理图像的线噪声;
模糊处理模块,用于根据模糊来源对所述待处理图像进行去模糊处理,所述模糊来源包括散焦模糊和色散;
所述噪声处理模块,还用于去除所述待处理图像的其他噪声,得到处理后的图像,所述其他噪声包括除所述线噪声之外的噪声。
7.根据权利要求6所述的紫外光谱图像处理装置,其特征在于,还包括:
获取模块,用于获取与测试输入图像对应的测试输出图像;
所述获取模块,还用于对所述测试输入图像和所述测试输出图像进行差异对比分析,得到所述校正参数。
8.根据权利要求6或7所述的紫外光谱图像处理装置,其特征在于,所述长宽比校正模块,具体用于:
采用三次样条算法,根据所述校正参数校正所述待处理图像的长宽比。
9.根据权利要求6所述的紫外光谱图像处理装置,其特征在于,所述噪声处理模块,具体用于:
遍历所述待处理图像像素矩阵的每一行,确定所述线噪声干扰行为元素值均为255的各个行;
遍历所述待处理图像像素矩阵的每一列,确定所述线噪声干扰列为元素值均为255的各个列。
10.根据权利要求9所述的紫外光谱图像处理装置,其特征在于,所述噪声处理模块,具体用于:
采用均值方法,根据所述线噪声干扰行和/或线噪声干扰列去除所述线噪声。
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