[发明专利]一种基于混合探针基因芯片检测方法无效

专利信息
申请号: 201410833492.2 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN104561290A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 刘全俊;侯传荣;于静静;余筠如;包镇;汪荣亮;谷德健 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68
代理公司: 江苏永衡昭辉律师事务所 32250 代理人: 王斌
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 混合 探针 基因芯片 检测 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及基因芯片质量控制方法,具体涉及一种基于混合探针基因芯片检测方法。

背景技术

基因芯片技术作为近年来快速发展的一项生物高新技术,为解决怎样研究基因在生命过程中所担负的功能提供了光辉的前景。基因芯片技术是指将大量探针分子固定于支持物上后与标记的样品分子进行杂交,通过检测每个探针分子的杂交信号强度进而获取样品序列信息。

与传统核酸印迹杂交方法相比,基因芯片同时将大量根据靶基因的特征及检测要求预先设计好的探针固定在支持物表面,一次杂交可检测和分析样品中多种靶基因的相关信息,解决了传统核酸印迹杂交技术操作繁杂、自动化程度低、操作序列数量少、检测效率低等不足,使基因芯片技术具有了高通量、多参数同步分析,快速全自动分析,高精确度分析,高灵敏度分析的特点。但用荧光标记的PCR产物与匹配探针杂交对未知DNA序列片段进行检测的方法本身也存在缺陷:      

1)基因芯片荧光检测主要依赖于检测结果的荧光强度,没有荧光强度或者荧光强度弱的即判断为阴性,但在阴性的结果中无法确定是否是探针固定上;2)多种基因芯片技术平台得到的研究结果不一致,因此基因芯片的有效性控制已成为目前基因技术研究的热点,尤其是应用型基因芯片尚无一些准确、高效地有效性检测方法,其应用的推广尚有困难。因此发展一种准确、高效地有效性检测方案来检测探针是否固定成为一种迫切的需要。

基因芯片有有效性控制方案包括基因芯片探针、支持物制备的有效性控制、探针在支持物上的固定效率即基因芯片制备的有效性控制,以及基因芯片检测时的有效性控制、检测结果的标准化等一系列问题。本专利主要针对的是制备有效性的基因芯片。

制备有效性基因芯片的传统方法有以下几种:1)利用荧光DNA染料对单链DNA探针染色,根据荧光DNA染料强度来估计芯片的有效性;2)利用目的探针3点样液和带荧光1质量控制探针4点样液分别点样于修饰了手臂分子6的基质7上,形成各自的斑点,然后使目的探针3在目斑点处与带有同种或异种荧光2的待测DNA序列5杂交,根据质量探针点样位置是否发荧光,估计芯片的有效性,根据目的探针点位置是否发荧光,判定待测DNA序列信息,如图1所示。但是以上的这些方法都无法直接、有效地评价芯片制备的质量。

这些传统基因芯片质量控制的方法可减少了基因检测中假阳性结果出现的可能性,在一定程度上提高了检测结果的准确性,但通常传统基因芯片的缺陷是其自身质量无法得到较好的控制,本发明提出了一种基因芯片有效性控制方法,能够对基因芯片的有效性进行控制,大大提高其检测的可靠性。

发明内容

针对现有技术的不足,本发明提供了一种基于混合探针基因芯片检测方法,能较直接地检测探针是否固定在基片上,以排除因探针缺失而造成的阴性结果出现的可能性,提高了基因芯片检测的准确性和可靠性。

为实现上述目的,本发明采用的技术方案是:

本发明基于混合探针基因芯片检测方法,包括以下几个步骤:

步骤一:样品制备

制备含有目的探针的溶液,和第一荧光基团标记的质量控制探针的溶液;并将上述目的探针的溶液和第一荧光基团标记的质量控制探针的溶液充分混合,制备成点样溶液。

步骤二:基因芯片制备

将上述混合后的溶液点样于修饰了手臂分子的基片上形成N个探针斑点,N为自然数,经过固定并清除未固定的探针,完成基因芯片的制备。

步骤三:通过检测质量控制探针的信号检测目的探针通过手臂分子固定在基片上

检测上述所有探针斑点发出的荧光信号,若在第一荧光基团的激发波长下检测到荧光,则表示质量控制探针通过手臂分子固定在基片上,同时说明目的探针通过手臂分子固定在基片上,从而判定基因芯片质量合格。

否则,若任一个探针斑点中在第一荧光基团的激发波长下未检测到荧光,表示质量控制探针未通过手臂分子固定在基片上,判定为基因芯片质量不合格。

本发明基于混合探针基因芯片检测方法,还包括以下步骤:

步骤四:杂交

将第二荧光基团标记的待测序列与质量合格的基因芯片上所述的探针斑点中的目的探针进行杂交,杂交后,目的探针中的探针和待测序列结合形成杂交产物。

步骤五:确定待测序列的序列信息

对所述杂交产物进行荧光信号检测,若在第二荧光基团的激发波长下检测到荧光,则确定目的探针与待测序列互补,并确定待测序列的序列信息。

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