[发明专利]一种吸氚靶片制备方法在审

专利信息
申请号: 201410835094.4 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN104602438A 公开(公告)日: 2015-05-06
发明(设计)人: 杨洪广;宋应民;何长水 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: H05H6/00 分类号: H05H6/00
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地址: 102413 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 吸氚靶片 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种吸氚靶片制备方法,包括以下步骤:

(1)选用钼圆片作为氚靶衬底材料;

(2)去除钼圆片表面油污;

(3)将钼圆片上表面镀制钛膜并通过高温真空热处理,使钛膜转变为Ti-Mo合金膜,所述Ti-Mo合金膜称为靶膜,镀制钛膜的钼圆片称为靶片;

(4)所述靶片吸氚后形成吸氚靶片,所述吸氚靶片高温高真空除气与靶膜吸氘/放氘活化处理;

(5)靶膜饱和吸氚。

2.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(1)中,所述钼圆片厚度为0.5-1mm。

3.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(2)中,将所述钼圆片放入丙酮溶液中进行超声清洗,超声清洗的时间不少于30分钟,去除表面油污。

4.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(3)中,采用高真空磁控溅射镀膜工艺镀制钛膜,在镀膜过程中,通过控制靶衬底温度,使钛膜转变为Ti-Mo合金膜,并使钼圆片与靶膜之间形成Ti-Mo合金扩散层。

5.如权利要求4所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:所述Ti-Mo合金扩散层厚度为1-1.5μm。

6.如权利要求4所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:所述Ti-Mo合金膜厚度为2-3μm。

7.如权利要求6所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:所述Ti-Mo合金膜中钼的含量在10-12at.%之间均匀分布。

8.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(4)中,吸氚靶片除气温度应不低于500℃,除气真空度应高于5×10-4Pa。

9.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(4)中,吸氚靶片除气完毕后,应进行吸氘/放氘循环2-3次,去除表面氧化膜。

10.如权利要求1所述的一种吸氚靶片制备方法,其特征是:在步骤(5)中,靶膜吸氚温度为350-400℃,吸氚压力不大于300Pa。

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