[发明专利]电子元件识别方法和系统

权利要求书

1.一种电子元件识别方法，其特征在于，包括：

获取待识别的电子元件图像；

根据指定的模板图像，对所述电子元件图像上的电子元件进行特征点匹配；

在所述电子元件图像与所述模板图像匹配成功时，识别出在所述电子元件图像上的与所述模板图像相匹配的电子元件。

2.如权利要求1所述的电子元件识别方法，其特征在于，所述根据指定的模板图像，对所述电子元件图像上的电子元件进行特征点匹配，包括：

对所述模板图像进行ORB特征点提取；

对所述模板图像中的电子元件外形轮廓进行标注，并去除所述模板图像中的电子元件外形轮廓的特征点，获得表征所述模板图像上的目标电子元件的第一图像特征点；

对所述电子元件图像进行ORB特征点提取，获得表征所述电子元件图像上的待识别电子元件的第二图像特征点；

对所述第一图像特征点和第二图像特征点进行匹配，获得n对特征点，n≥0；

根据所述n对特征点，判断所述模板图像与所述电子元件图像是否匹配成功。

3.如权利要求2所述的电子元件识别方法，其特征在于，所述根据所述n对特征点，判断所述模板图像与所述电子元件图像是否匹配成功，包括：

根据预设的匹配度阀值α，滤除所述n对特征点中的匹配度小于α的特征点，获得匹配成功的特征点的对数为m，其中，α>1，m≥0；

根据预设的判断阈值β，将匹配成功的特征点的对数m与特征点对数n的比值m/n与所述判断阈值β进行比较，其中，0<β<1；

若比值m/n≥β，则判定所述电子元件图像与所述模板图像匹配成功；若比值m/n＜β，判定所述电子元件图像与所述模板图像匹配失败。

4.如权利要求2所述的电子元件识别方法，其特征在于，对所述模板图像进行ORB特征点提取和对所述电子元件图像进行ORB特征点提取时，

根据所述电子元件图像和所述模板图像的特征点检测算子，获得所述模板图像的ORB特征点和所述电子元件图像的ORB特征点；并采用BRIEF描述子表征每个特征点。

5.如权利要求4所述的电子元件识别方法，其特征在于，采用以下方程对所述电子元件图像和所述模板图像进行ORB特征点提取：

N=Σx∀(circle(p))|I(x)-I(p)|>ϵd]]>

其中，I(x)为所述电子元件图像或所述模板图像的以像素p为圆心的圆周上任意一点的灰度；circle(p)表示以p为圆心的圆，I(p)为圆心的灰度；

若参数N大于灰度差阈值ε_d，则判定像素p为所述电子元件图像或所述模板图像上的一个特征点。

6.一种电子元件识别系统，其特征在于，包括：

图像采集单元，用于获取待识别的电子元件图像；

图像匹配单元，用于根据指定的模板图像，对所述电子元件图像上的电子元件进行特征点匹配；

识别单元，用于在所述电子元件图像与所述模板图像匹配成功时，识别出在所述电子元件图像上的与所述模板图像相匹配的电子元件。