[发明专利]测试器件及其操作方法

权利要求书

1.一种测试器件，包括：

电路建模部，其适于通过以测试目标电路与模型电路之间的一对一或一对多的关系对测试目标电路建模来产生一个或多个所述模型电路；以及

测试操作部，其适于将所述模型电路合成、以及对所述模型电路执行测试操作，

其中，所述电路建模部以所述一对多的关系对所述测试目标电路建模，以基于所述测试目标电路的延迟量来产生不同类型的所述模型电路。

2.一种操作测试器件的方法，包括：

利用一对一的关系来对测试目标电路的第一测试目标电路建模，以产生第一模型电路；

利用一对多的关系来对所述测试目标电路的第二测试目标电路建模，以产生第二模型电路；以及

通过将所述第一模型电路和所述第二模型电路合成来执行测试操作，

其中，对所述第二测试目标电路建模包括：

基于所述第二测试目标电路的延迟量来确定所述第二模型电路的电路类型。

3.如权利要求2所述的方法，其中，对所述第二测试目标电路建模包括：

当所述延迟量小于预定的延迟量时，产生第一类型的第二模型电路；以及

当所述延迟量大于或等于所述预定的延迟量时，产生第二类型的第二模型电路。

4.如权利要求3所述的方法，其中，所述第一类型的第二模型电路的电路面积与所述延迟量成正比。

5.如权利要求3所述的方法，其中，所述第一类型的第二模型电路在与所述延迟量相对应的时段期间执行移位操作。

6.如权利要求3所述的方法，其中，所述第二类型的第二模型电路的电路面积大体上是恒定的，而与所述延迟量无关。

7.如权利要求3所述的方法，其中，所述第二类型的第二模型电路执行计数操作，其中执行计数操作的次数与所述延迟量相对应。

8.如权利要求3所述的方法，其中，所述第一类型的第二模型电路和所述第二类型的第二模型电路是同步电路。

9.一种测试器件，包括：

电路建模部，其适于基于测试目标电路的延迟量来产生各种类型的模型电路；以及测试操作部，其适于将所述模型电路合成、以及对所述模型电路执行测试操作，

其中，所述模型电路包括当所述延迟量低于预定的延迟量时产生的第一类型的模型电路、和当所述延迟量大于或等于所述预定的延迟量时产生的第二类型的模型电路。

10.如权利要求9所述的测试器件，其中，所述第一类型的模型电路的电路面积与所述延迟量成正比。

11.如权利要求9所述的测试器件，其中，所述第一类型的模型电路包括移位电路，所述移位电路适于在与所述延迟量相对应的时段期间将输入信号移位。

12.如权利要求9所述的测试器件，其中，所述第二类型的模型电路的电路面积大体上是恒定的，而与所述延迟量无关。

13.如权利要求9所述的测试器件，其中，所述第二类型的模型电路包括：

计数单元，其适于响应于输入信号来计数；以及

比较单元，其适于将所述延迟量与所述计数单元的输出信号进行比较、以及输出比较的结果。