[发明专利]引脚线的制作方法在审

专利信息
申请号: 201410842369.7 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN104538323A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 刘善善;周任吉 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 高月红
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 引脚 制作方法
【权利要求书】:

1.一种引脚线的制作方法,其特征在于:包括步骤:

1)在硅片上,形成阻挡层,并在阻挡层上形成金属铝膜;

2)刻蚀金属铝膜,形成图形;

3)在硅片表面上形成钝化层;

4)刻蚀钝化层,并进行过刻,即直至裸露出金属铝引脚线即止;

5)对裸露的金属铝膜表面进行氧化处理;

6)湿法清洗成型。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,硅片包括:不带图形的硅片或带图形的硅片;

阻挡层的材质包括:由Ti与TiN构成的复合材料;

阻挡层的形成方法包括:物理溅射成膜的方法;

阻挡层的厚度为10~1000埃。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:所述物理溅射成膜的方法中的条件为:溅射温度10~500℃,压力1~10torr。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,金属铝膜的材质包括:铝铜膜;其中,Al的质量分数为99~99.5%,Cu的质量分数为0.5~1%;

金属铝膜的形成方法包括:物理溅射成膜的方法;

金属铝膜的厚度为10~20000埃。

5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:所述物理溅射成膜的方法中的条件为:溅射温度10~500℃,压力1~10torr。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤2)中,刻蚀的方法包括:干法刻蚀。

7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述所述步骤3)中,钝化层的材质包括:氮化硅;

形成钝化层的方法包括:化学气相沉积法;

形成钝化层的温度为300~400℃;

钝化层的厚度为5nm~20nm。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤4)中,钝化层的刻蚀的方法包括:干法刻蚀;

过刻中,过刻蚀金属铝膜的厚度为100~500埃。

9.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤5)中,氧化处理的方法包括:采用氧离子轰击的方法;

其中,该氧离子轰击的方法中的条件如下:

离子化功率500~1000W,气体采用氧气,流量为100~300cc,轰击时间2~20s。

10.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤6)中,湿法清洗中的药液包括:氢氟酸与盐酸的混合液。

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