[发明专利]引脚线的制作方法在审
申请号: | 201410842369.7 | 申请日: | 2014-12-29 |
公开(公告)号: | CN104538323A | 公开(公告)日: | 2015-04-22 |
发明(设计)人: | 刘善善;周任吉 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 高月红 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 引脚 制作方法 | ||
1.一种引脚线的制作方法,其特征在于:包括步骤:
1)在硅片上,形成阻挡层,并在阻挡层上形成金属铝膜;
2)刻蚀金属铝膜,形成图形;
3)在硅片表面上形成钝化层;
4)刻蚀钝化层,并进行过刻,即直至裸露出金属铝引脚线即止;
5)对裸露的金属铝膜表面进行氧化处理;
6)湿法清洗成型。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,硅片包括:不带图形的硅片或带图形的硅片;
阻挡层的材质包括:由Ti与TiN构成的复合材料;
阻挡层的形成方法包括:物理溅射成膜的方法;
阻挡层的厚度为10~1000埃。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:所述物理溅射成膜的方法中的条件为:溅射温度10~500℃,压力1~10torr。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤1)中,金属铝膜的材质包括:铝铜膜;其中,Al的质量分数为99~99.5%,Cu的质量分数为0.5~1%;
金属铝膜的形成方法包括:物理溅射成膜的方法;
金属铝膜的厚度为10~20000埃。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于:所述物理溅射成膜的方法中的条件为:溅射温度10~500℃,压力1~10torr。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤2)中,刻蚀的方法包括:干法刻蚀。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述所述步骤3)中,钝化层的材质包括:氮化硅;
形成钝化层的方法包括:化学气相沉积法;
形成钝化层的温度为300~400℃;
钝化层的厚度为5nm~20nm。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤4)中,钝化层的刻蚀的方法包括:干法刻蚀;
过刻中,过刻蚀金属铝膜的厚度为100~500埃。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤5)中,氧化处理的方法包括:采用氧离子轰击的方法;
其中,该氧离子轰击的方法中的条件如下:
离子化功率500~1000W,气体采用氧气,流量为100~300cc,轰击时间2~20s。
10.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述步骤6)中,湿法清洗中的药液包括:氢氟酸与盐酸的混合液。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司;,未经上海华虹宏力半导体制造有限公司;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410842369.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造