[发明专利]一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法

权利要求书

1.一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，采用弯曲参考法或多模参考法测试光纤衰减系数和截止波长，其特征在于：

所述弯曲参考法包括以下步骤：

A1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；

A2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；

A3、将所述短光纤折弯装入光功率测试设备中，折弯后的短光纤上设有并排分布的一小圈和一大圈，保持步骤A1中测量待测长光纤时的注入条件，测量短光纤在小圈和大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P2(λ)；

A4、放开所述小圈，保持步骤A3中测量短光纤时的注入条件，测量短光纤仅在大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P3(λ)；

A5、拟合短光纤在小圈和大圈状态下的出纤光功率P2(λ)与短光纤仅在大圈状态下的出纤光功率P3(λ)之间的对数比R(λ)：

R(λ)=10log(P3(λ)P2(λ))]]>

待测长光纤的截止波长λ_c为：在R(λ)-λ曲线上，当R(λ)＝0.1dB处的最大波长；

待测长光纤的衰减系数α(λ)为：α(λ)=10×log(P2(λ)/P1(λ))L;]]>

所述多模参考法包括以下步骤：

B1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；

B2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；

B3、将所述短光纤折弯装入光功率测试设备中，折弯后的短光纤上设有一大圈，保持步骤B1中测量待测长光纤时的注入条件，测量短光纤输出端处的出纤光功率P4(λ)；

B4、调用系统中已有的多模光纤的参考光功率Pm(λ)；

B5、拟合短光纤在大圈状态下的传输功率谱Am(λ)：

Am(λ)=10log(P4(λ)Pm(λ))]]>

待测长光纤的截止波长λ_c为：将Am(λ)-λ曲线的长波长部分拟合一条直线，将该直线向上平移0.1dB后得到一条参考直线，该参考直线与Am(λ)-λ曲线相交处的最大波长；

待测长光纤的衰减系数α(λ)为：α(λ)=10×log(P4(λ)/P1(λ))L.]]>