[发明专利]一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光纤参数测试方法，特别是涉及一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法。

背景技术

光纤衰减系数(也称衰耗系数)是指每公里光纤对光信号功率的衰减值，其是多模光纤和单模光纤最重要的特性参数之一，在很大程度上决定了单模和多模光纤通信的中继距离。另外，截止波长的定义为：单模光纤通常存在某一波长，当所传输的光波长超过该波长时，光纤只能传播一种模式(基模)的光，而在该波长之下，光纤可传播多种模式(包含高阶模)的光。因此，在光纤实际应用时，经常需要对光纤衰减系数和截止波长进行测试，以为光纤生产中控制光纤拉丝张力、制造光缆和敷设光缆时控制其在工作波长有效单模传输等提供重要的依据。

目前，光纤衰减系数和截止波长的测试是分开单独进行的，同时，光纤截止波长的测试有弯曲参考法和多模参考法两种测试方式，故在对光纤衰减系数和截止波长进行测试时，测试步骤繁多，过程繁杂，测试时间过长，从而导致测试效率低。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，有效提高测试效率，缩短测试时间。

为实现上述目的，本发明提供一种同步测试光纤衰减系数和截止波长的测试方法，采用弯曲参考法或多模参考法测试光纤衰减系数和截止波长，所述弯曲参考法包括以下步骤：

A1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；

A2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；

A3、将所述短光纤折弯装入光功率测试设备中，折弯后的短光纤上设有并排分布的一小圈和一大圈，保持步骤A1中测量待测长光纤时的注入条件，测量短光纤在小圈和大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P2(λ)；

A4、放开所述小圈，保持步骤A3中测量短光纤时的注入条件，测量短光纤仅在大圈状态下、短光纤输出端处的出纤光功率P3(λ)；

A5、拟合短光纤在小圈和大圈状态下的出纤光功率P2(λ)与短光纤仅在大圈状态下的出纤光功率P3(λ)之间的对数比R(λ)：

R(λ)=10log(P3(λ)P2(λ))]]>

待测长光纤的截止波长λ_c为：在R(λ)-λ曲线上，当R(λ)＝0.1dB处的最大波长；

待测长光纤的衰减系数α(λ)为：α(λ)=10×log(P2(λ)/P1(λ))L;]]>

所述多模参考法包括以下步骤：

B1、将一段长为L的待测长光纤装入光功率测试设备中，测量待测长光纤输出端处的出纤光功率P1(λ)；

B2、在离所述待测长光纤输入端的2m处截断待测长光纤，得到一段长为2m的短光纤；