[实用新型]一种X荧光铜合金测试仪有效
申请号: | 201420072410.2 | 申请日: | 2014-02-20 |
公开(公告)号: | CN203732474U | 公开(公告)日: | 2014-07-23 |
发明(设计)人: | 郭晓明;苏建平;周偃;时玲 | 申请(专利权)人: | 上海精谱科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人: | 吕伴 |
地址: | 201806 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 荧光 铜合金 测试仪 | ||
1.一种X荧光铜合金测试仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测试平台,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的探测器,所述信号处理装置与所述计算机连接,所述激发光源装置与所述计算机控制连接,所述激发光源装置中设置有X射线发生器,所述探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,所述X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器,其特征在于,所述探测器为SUPER-SDD电制冷探测器。
2.如权利要求1所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述样品测试平台为可变尺寸样品测试平台,其包括样品托板、可更换的样品托架以及样品压环,所述样品托板上设置有一带孔的容置槽,所述样品托架设置在所述容置槽内,所述样品托架上设置有一供X射线发生器激发射线穿过的测试孔,所述测试孔与所述容置槽的孔相对应,所述样品压环将一张6μm厚的迈拉膜压紧在所述样品托架上。
3.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述可变尺寸样品测试平台外围为样品室,所述样品室与一真空系统连接。
4.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述信号处理装置包括与所述探测器连接的放大器以及与所述放大器连接的模数转换器。
5.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述SUPER-SDD电制冷探测器上设置有USB接口、RS232串口、以太网通信接口。
6.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,在所述信号处理装置还设有与模数转换器连接而获取多道数据的单片机。
7.如权利要求6所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述计算机设有USB接口、RS232串口、以太网通信接口,所述单片机通过USB接口把获取的多道数据传输给计算机。
8.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,在所述可变尺寸样品测试平台的底部还设置有一摄像头。
9.如权利要求2所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述计算机上还连接有输出设备。
10.如权利要求9所述的一种X荧光铜合金测试仪,其特征在于,所述输出设备包括显示器和打印机。
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