[实用新型]一种X荧光铜合金测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种分析仪器，特别涉及一种X荧光铜合金测试仪。

背景技术

目前，所使用的X荧光铜合金测试仪，它包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测试平台；其中，激发光源装置和信号处理装置分别连接的计算机，该激发光源安装在靠近测样装置的位置，信号探测装置连接信号处理装置，样品测试平台是用于存放被测样品。该X荧光铜合金测试仪由于采用SI-PIN探测器，虽然该探测器比传统的Si(Li)探测器性能有了较大的提高，而且不再采用液氮冷却方式，使用上更加方便，但该探测器的缺点是对轻元素的探测器比较低，对镁铝硅磷硫的灵敏度比较低；而且不能抽真空，因此不能测量轻元素，如Mg、Al、Si、P、S等元素，因此一般只用于铜、锌、铁、铅、镍、锡等重元素的测量，以及测量铅黄铜、普通黄铜等对轻元素没有要求的铜合金样品，不能用于铝青铜、硅黄铜等样品的测量。另外，X射线发生器前不设有滤光片选择装置，从而待测样本的本底较高，降低了分析元素的灵敏度及检出限，影响了样品测量结果的精确度。再者，目前的样品测试平台的尺寸单一，不能根据需要测试样品的尺寸而改变测试平台的测试区域范围。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足和缺陷，提供一种使用方便、精度高、通用性强的X荧光铜合金测试仪，提高分析元素的灵敏度和检出限，以解决上述问题。

本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：

一种X荧光铜合金测试仪，包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、计算机以及样品测试平台，所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的探测器，所述信号处理装置与所述计算机连接，所述激发光源装置与所述计算机控制连接，所述激发光源装置中设置有X射线发生器，所述探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上，所述X射线发生器前设置有滤光片选择装置和准直器，其特征在于，所述探测器为SUPER-SDD电制冷探测器。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述样品测试平台为可变尺寸样品测试平台，其包括样品托板、可更换的样品托架以及样品压环，所述样品托板上设置有一带孔的容置槽，所述样品托架设置在所述容置槽内，所述样品托架上设置有一供X射线发生器激发射线穿过的测试孔，所述测试孔与所述容置槽的孔相对应，所述样品压环将一张6μm厚的迈拉膜压紧在所述样品托架上。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述可变尺寸样品测试平台外围为样品室，所述样品室与一真空系统连接。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述信号处理装置包括与所述探测器连接的放大器以及与所述放大器连接的模数转换器。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述SUPER-SDD电制冷探测器上设置有USB接口、RS232串口、以太网通信接口。

在本实用新型的一个优选实施例中，在所述信号处理装置还设有与模数转换器连接而获取多道数据的单片机。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述计算机设有USB接口、RS232串口、以太网通信接口，所述单片机通过USB接口把获取的多道数据传输给计算机。

在本实用新型的一个优选实施例中，在所述可变尺寸样品测试平台的底部还设置有一摄像头。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述计算机上还连接有输出设备。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述输出设备包括显示器和打印机。

本实用新型的工作原理如下：

X射线发生器发出X射线激发样品，使样品中各个元素的原子中的核外电子（特别是K层电子）受激发而放出，并且在原来位置产生一个空穴，此时外层电子（特别是L层电子）就会填充这个空穴位置，多余的能量就以特征X射线的形式放出,这些特征X射线进入探测器产生脉冲信号,经过前置放大器送入脉冲数字谱仪放大器,经脉冲数字谱仪放大器的放大与脉冲成形,送入模数转换器,模数转换器将模拟信号转换成数字量,送入计算机接口,软件通过控制接口电路来进行谱数据的采集与控制。