[实用新型]晶圆清洗机有效
申请号: | 201420146111.9 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN203760441U | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 马岩;白雪峰;荣宇;郝鑫 | 申请(专利权)人: | 沈阳仪表科学研究院有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳科威专利代理有限责任公司 21101 | 代理人: | 杨滨 |
地址: | 110043 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 | ||
【权利要求书】:
1.一种晶圆清洗机,包括主壳体、固定在主壳体上的清洗部和伺服系统,其特征在于:所述主壳体内设有由伺服系统控制的伺服电机,伺服电机的输出轴上设有贯穿主壳体和清洗部连接处的真空轴,真空轴上设有真空发生器,真空轴末端设有吸盘;清洗部内设有步进电机,步进电机的输出端上设有摆杆,摆杆上设有喷头。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造