[实用新型]晶圆清洗机有效
申请号: | 201420146111.9 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN203760441U | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 马岩;白雪峰;荣宇;郝鑫 | 申请(专利权)人: | 沈阳仪表科学研究院有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳科威专利代理有限责任公司 21101 | 代理人: | 杨滨 |
地址: | 110043 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种清洗机装置,具体地说一种晶圆清洗机。
背景技术
早在50年代初期,硅片清洗对半导体工业的重要性就已经引起人们的高度重视,这是由于硅片表面的污染物会严重影响器件的性能、可靠性和成品率。为此,需要一种晶圆清洗机。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种高温硬密封球阀用晶圆清洗机。从根本上解决了现有硅片清洗难度大的问题。其结构设计巧妙,具有结构简单、使用方便、维护成本低、清洗质量高等优点。
本实用新型的目的是这样实现的:该晶圆清洗机,包括主壳体、固定在主壳体上的清洗部和伺服系统,其技术要点是:所述主壳体内设有由伺服系统控制的伺服电机,伺服电机的输出轴上设有贯穿主壳体和清洗部连接处的真空轴,真空轴上设有真空发生器,真空轴末端设有吸盘;清洗部内设有步进电机,步进电机的输出端上设有摆杆,摆杆上设有喷头。
本实用新型的有益效果是:利用机械方法使硅片以较高的速度旋转, 在硅片旋转过程中向硅片表面喷淋清洗液,达到清洁硅片的目的。清洗液与硅片表面的沾污发生化学反应将沾污溶解, 同时利用硅片高速旋转的离心作用, 使溶有杂质的清洗液不断脱离硅片表面, 因此硅片表面的液体可保持高纯度,从而达到最佳清洗效果。此外,清洗液与旋转的硅片之间具有较高的相对速度,以会产生较大的冲击力,从而可进一步清除硅片表面的杂质。综上所述,本实用新型将化学清洗、流体力学清洗、高压擦洗及硅片甩干工序的优点相结合,实现了高品质的硅片自动清洗。
附图说明
以下结合附图对本实用新型作进一步描述。
图1是本实用新型气密性试验装置结构示意简图;
图2是本实用新型气压气密性试验示意简图。
附图标记说明:1喷头、2吸盘、3摆杆、4真空轴、5真空发生器、6步进电机、7伺服电机、8主壳体、9清洗部。
具体实施方式
以下结合图1~4详细阐述本实用新型的结构。该晶圆清洗机,包括主壳体8、固定在主壳体8上的清洗部9和伺服系统等部分。其中,主壳体8内设有由伺服系统控制的伺服电机7,伺服电机7的输出轴上设有贯穿主壳体8和清洗部连接处的真空轴4,真空轴4上设有真空发生器5,真空轴4末端设有吸盘2。清洗部9内设有步进电机6,步进电机6的输出端上设有摆杆3,摆杆3上设有喷头1。
控制部分采用伺服系统、PLC、触摸屏组成,可实现摆臂和工作台精确定位和速度控制。触摸屏采用人机交互接口,操作者可通过触摸屏进行参数设置、工作模式切换、系统状态监控及手动操作。伺服系统又称随动系统,可按控制命令的要求、对功率进行放大、变换与调控等处理,使驱动装置输出的力矩、速度和位置控制非常灵活方便。清洗机的摆臂及吸盘分别由步进电机、伺服电机驱动,因此可保证控制的精确度,清洗机摆臂摆动距离,摆动速度,及旋转盘转速都可以通过触摸屏进行精确设定。清洗机的核心控制单元PLC,控制清洗机各部件运动和报警输出。
步进电机6接收到伺服系统的脉冲信号后驱动摆杆3转动一定角度。步进电机6带动摆杆3摆动,喷头1固定在摆杆3上随着摆杆3摆动,摆动的同时喷出水和气,真空发生器5产生真空,通过真空轴4把将吸盘3上的硅片负压固定,伺服电机7带动真空轴5和吸盘3高速旋转,硅片进行脱水,喷淋清洗一段时间后, 喷水停止, 采用喷惰性气体, 同时还可以通过提高旋转速度, 增大离心力, 使硅片表面很快脱水。
本实用新型主要针对切割后的6英寸、8英寸、12英寸硅片,采用旋转喷淋技术,利用机械方法将硅片以较高的速度旋转起来,在旋转过程中通过不断向硅片表面喷淋液体,从而达到清洁硅片的目的。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造