[实用新型]一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺有效
| 申请号： | 201420185000.9 | 申请日： | 2014-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN203839350U | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 张洪超;沈一清;李帅锋;张磊;占伟 | 申请（专利权）人： | 浙江长兴汉能光伏有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 湖州金卫知识产权代理事务所(普通合伙) 33232 | 代理人： | 赵卫康 |
| 地址： | 313000 浙江省湖州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检验 非晶硅 太阳能电池 激光 位置 标尺 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：包括尺体（11）和与尺体垂直设置的折边（12）；所述尺体（11）为透明或半透明状，所述尺体（11）表面设有与非晶硅太阳能电池标准激光刻线位置相同的标记。
2.根据权利要求1所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述标记为激光刻线或凸出尺体（11）表面的凸棱（14）。
3.根据权利要求1所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述折边（12）设置在尺体（1）的一端。
4.根据权利要求1所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述折边（12）设置在尺体（11）的两端。
5.根据权利要求4所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述折边（12）的内边距大于等于非晶硅太阳能电池TCO玻片的宽度。
6.根据权利要求4所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述设置在尺体（11）其中一端的折边（12）与尺体铰接。
7.根据权利要求4所述的一种用于检验非晶硅太阳能电池激光刻线位置的标尺，其特征在于：所述折边（12）内侧设置有滚珠或滚轮。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江长兴汉能光伏有限公司，未经浙江长兴汉能光伏有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420185000.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
