[实用新型]一种束光学探测系统有效
| 申请号： | 201420186194.4 | 申请日： | 2014-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN203881440U | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 詹志明 | 申请（专利权）人： | 江汉大学 |
| 主分类号： | G01J1/42 | 分类号： | G01J1/42;G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 刘杰 |
| 地址： | 430056 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光学 探测 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种束光学探测系统，包括束光源、耦合装置、振荡腔和光电探测器，其特征是，所述振荡腔为U型振荡腔，所述U型振荡腔固定，在U型振荡腔两侧分别安装所述束光源和所述光电探测器，所述U型振荡腔的两竖板对应设置束孔，所述束光源通过所述耦合装置的耦合孔将微波激励信号输入到U型振荡腔腔体中，所述光电探测器与所述U型振荡腔的任意一端束孔末端相连。
2.根据权利要求1所述的束光学探测系统，其特征在于，还包括辐射强度调节装置和原子速度调节装置，所述束光源分别同所述辐射强度调节装置和原子速度调节装置连接。
3.根据权利要求1或2所述的束光学探测系统，其特征在于，还包括参数调节装置，所述参数调节装置与所述耦合装置连接。
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