[实用新型]一种芯片测试系统有效
| 申请号： | 201420186734.9 | 申请日： | 2014-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN203773019U | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 王锐;夏群 | 申请（专利权）人： | 成都先进功率半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 王芸;熊晓果 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种芯片测试系统，包括用于对芯片进行测试的Tektronix 370A型晶体管图示仪，其特征在于，还包括与所述Tektronix 370A型晶体管图示仪电连接的芯片测试座，该芯片测试座包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于插接连接Tektronix 370A型晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与Tektronix 370A型晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。
2.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述引脚有3对，每一对引脚分别与Tektronix 370A型晶体管图示仪上的一组测试插孔适配。
3.根据权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述第一拨码开关与所述第二拨码开关对称设置在所述基座上表面两端，所述芯片夹具位于第一拨码开关和第二拨码开关之间。
4.根据权利要求1-3任一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片夹具包括本体，该本体具有用于芯片固定的固定槽和用于与芯片引脚接触的针脚，所述针脚位于所述固定槽的底部两侧并伸出所述本体。
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