[实用新型]一种芯片测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种利用Tektronix370A晶体管图示仪测试芯片的芯片测试系统。

背景技术

目前利用Tektronix 370A晶体管图示仪对半导体芯片测试时，需要手动用带有插头的导线连接芯片相应引脚到晶体管图示仪的相应插口内，实现芯片与晶体管图示仪的连接，从而完成后续不同电性能参数的测试，这种方式需要操作人员人工连线，且不停插拔导线插头连接到晶体管图示仪上，操作繁琐易出错，芯片测试效率低下。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种操作简单，芯片测试效率高的芯片测试系统。

为了实现上述发明目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种芯片测试系统，包括用于对芯片进行测试的Tektronix 370A型晶体管图示仪，还包括与所述Tektronix 370A型晶体管图示仪电连接的芯片测试座，该芯片测试座包括基座，所述基座下表面设置至少一对用于插接连接Tektronix 370A型晶体管图示仪的引脚，所述一对引脚与Tektronix 370A型晶体管图示仪上的一组测试插孔适配；所述基座上表面设置有第一拨码开关、第二拨码开关和芯片夹具，所述一对引脚中的一个引脚与所述第一拨码开关电性连接，所述第一拨码开关与所述芯片夹具电性连接，所述芯片夹具与所述第二拨码开关电性连接，所述第二拨码开关与所述一对引脚中的另一个引脚电性连接。

优选的，所述引脚有3对，每一对引脚分别与Tektronix 370A型晶体管图示仪上的一组测试插孔适配。

所述第一拨码开关与所述第二拨码开关对称设置在所述基座上表面两端，所述芯片夹具位于第一拨码开关和第二拨码开关之间。

所述芯片夹具包括本体，该本体具有用于芯片固定的固定槽和用于与芯片引脚接触的针脚，所述针脚位于所述固定槽的底部两侧并伸出所述本体。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果：  

本实用新型的芯片测试系统工作时将芯片放入芯片夹具内固定，芯片相应引脚通过芯片夹具与两个拨码开关电连接，而两个拨码开关分别与芯片测试座下表面的一对引脚电连接，测试时将芯片测试座下表面的至少一对引脚插入晶体管图示仪上相应的测试插孔内，实现芯片引脚与晶体管图示仪的电连接，通过芯片测试座上的两个拨码开关实现测试电路的通断控制，操作人员只需插拔芯片测试座连接，免去手动连线，操作简单不易出错，也使得芯片测试效率大大提高。

附图说明：

图1是本实用新型实施例中的芯片测试系统的示意图；

图2是图1中的芯片测试座的结构示意图；

图3是图2中的芯片夹具结构示意图；

图4是本实用新型实施例中的晶体管图示仪示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施方式对本实用新型作进一步的详细描述。但不应将此理解为本实用新型上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本实用新型内容所实现的技术均属于本实用新型的范围。