[实用新型]一种氮化镓基发光二极管外延片有效
申请号: | 201420218452.2 | 申请日: | 2014-04-30 |
公开(公告)号: | CN203850331U | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | 孟彦超;潘鹏;王爱民;王波;白欣娇;范巧温 | 申请(专利权)人: | 同辉电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/14 | 分类号: | H01L33/14;H01L33/12;H01L33/04 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 米文智 |
地址: | 050200 河北省石*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 发光二极管 外延 | ||
技术领域
本实用新型涉及发光二极管技术领域。
背景技术
大功率GaN基InGaN/GaN多量子阱发光二极管已经广泛应用于景观照明、汽车头灯、交通信号灯和通用照明。但是,大功率发光二极管在大电流注入下的效率骤降却成为制约GaN基大功率发光二极管应用的首要问题。研究发现,引起大注入下效率骤降问题的重要原因在于,大电流注入下有源区内载流子密度过高,从而导致载流子在辐射复合之前就泄漏出了有源区。
为此,在InGaN/GaN基发光二极管的材料结构中,通常将P型AlGaN层置于量子阱与P型GaN之间,其作用是作为电子阻挡层将电子限定在量子阱区域内,以克服在大电流密度注入条件下,因电子溢出量子阱而导致的发光效率下降等问题。但是,该方案对电子的限制效果有限,阻碍了发光二极管发光效率的进一步提高。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足,提供一种氮化镓基发光二极管外延片,它在外延结构GaN非掺杂层与N型GaN层之间引入一种优化的n/n+超晶格结构层作为活化过渡层,该结构可以提高阻挡电子泄漏的效果,从而进一步提高发光二极管的发光效率。
为解决上述技术问题,本实用新型所采取的技术方案是:一种氮化镓基发光二极管外延片,其特征在于:它包括衬底,以及从下至上依次外延生长于衬底之上的低温GaN缓冲层、GaN非掺杂层、n/n+超晶格层、N型GaN层、多量子阱层、发光量子阱层、低温P型GaN层、高温P型GaN层和P型接触层,n/n+超晶格层由从下到上顺次叠加10-50次的若干单元组成,每个单元由轻掺硅GaN层和重掺硅GaN层组成。
作为优选,衬底为蓝宝石衬底。
作为优选,单元可以叠加10到30次,也可以叠加30到50次。
采用上述技术方案所产生的有益效果在于:本实用新型在外延结构uGaN与nGaN之间引入一种优化的n/n+超晶格结构层作为过渡层,其作用为活化电子,扩散电流密度,阻挡晶格失配引起的缺陷,并且能进一步提高阻挡电子泄漏的效果,使得大电流密度注入下InGaN/GaN基发光二极管的发光效率得到很大提升。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图中:1、衬底;2、低温缓冲层;3、GaN非掺杂层;4、n/n+超晶格层;5、N型GaN层;6、多量子阱层;7、发光量子阱层;8、低温P型GaN层;9、高温P型GaN层;10、P型接触层。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细的说明。
如图1,一种氮化镓基发光二极管外延片,它在蓝宝石衬底1上以从下至上的顺序依次外延生长低温缓冲层2、GaN非掺杂层3、n/n+超晶格层4、N型GaN层5、多量子阱层6、发光量子阱层7、低温P型GaN层8、高温P型GaN层9和P型接触层10,具体步骤如下:
1、在氢气环境中,以1200-1300℃的高温预烘烤衬底1;
2、降温至530℃生长20nm厚度的低温GaN缓冲层2;
3、升温至1100℃、保持压强为500托,生长500nm厚度的高温非掺杂GaN层3;
4、生长n/n+超晶格层4(Si的轻掺杂/重掺杂超晶格层):升温至1150℃,降低压强为360托,在生长高温GaN层3的同时,加入浓度为1%的SiH4气体,生长30秒,停止掺杂,稳定生长未掺杂的GaN 5秒,再加入浓度为10%的SiH4气体,生长30秒,停止掺杂,稳定生长未掺杂的GaN 5秒,如此单元循环叠加N次(10≤N≤50);未叠加外延片验证亮度为340mw,叠加10次之后,外延片验证亮度为357mw,提升约5%左右的发光效率,叠加30次之后,外延片验证亮度为363mw,提升约7%左右的发光效率,叠加50次之后,外延片验证亮度为367mw,提升约8%左右的发光效率。
5、保持1100℃高温、升高压强为500托,生长Si掺杂N型GaN层5,厚度大约为0.5μm;
6、生长AlGaN/InGaN多量子阱电子发射层6:在氮气条件下,生长温度为950℃,其中AlGaN厚度为15nm,InGaN厚度为2nm;
7、在氮气环境中生长InGaN/GaN多量子阱发光层7,其中GaN层的厚度为20nm,生长温度为 850℃,InGaN层的厚度为1.6nm,生长温度为810℃;
8、升高温度到900℃,压强为330托,生长Mg掺杂低温P型GaN层8,厚度大约为0.1μm;
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