[实用新型]高温反偏试验设备有效
申请号: | 201420239087.3 | 申请日: | 2014-05-09 |
公开(公告)号: | CN203929991U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 陆军;马永利;李秀青 | 申请(专利权)人: | 南通华隆微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 226000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 高温 试验 设备 | ||
1.一种高温反偏试验设备,其特征在于,所述该高温反偏试验设备包括一设备主体,所述设备主体的上端面上设置有复数通孔,每个所述通孔内设有一试验基座,所述试验基座上设置有三个供三极管/二极管的引脚插入用的插入孔,所述复数个试验基座均与电线电性连接,并与所述设备主体固定连接。
2.根据权利要求1所述的高温反偏试验设备,其特征在于,所述插入孔的两侧均设置有支撑块。
3.根据权利要求1所述的高温反偏试验设备,其特征在于,所述试验基座包括一凸出部及一固定片,所述凸出部通过通孔凸出设备主体的上端面,所述固定部设置于设备主体上端面的下方,并与设备主体用螺丝固定连接。
4.根据权利要求1-3任一项所述的高温反偏试验设备,其特征在于,所述设备主体为一长方体,为中空结构。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南通华隆微电子有限公司,未经南通华隆微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420239087.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种三孔式半剖导槽装置
- 下一篇:一种光电二极管、光电三极管快速区分器