[实用新型]高温反偏试验设备有效
申请号: | 201420239087.3 | 申请日: | 2014-05-09 |
公开(公告)号: | CN203929991U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 陆军;马永利;李秀青 | 申请(专利权)人: | 南通华隆微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 226000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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搜索关键词: | 高温 试验 设备 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种高温反偏试验设备,尤其涉及一种可以分析产品性能的试验设备。
背景技术
现有的用于测试二极管、三极管的高温反偏试验装置由高温烘箱、偏置板、反偏电源、及其控制系统、显示系统等部分组成,该装置包括电源、主控制系统、辅助控制系统、计算机、显示器、接插件、偏置板、恒温室,集中一起,设备体积庞大,价格昂贵,对于安装场所要求进门大小和高度有特殊要求,所以该装置使用条件受到很大限制。
但是由于高温反偏性能是评估半导体产品可靠性的重要试验设备,且产品在具体使用之前,不知道其能在承受设定温度和电流下工作下多长时间,这给产品的使用带来很大不便。
所以市场上急需一种高温反偏试验设备,其可以分析产品性能,提高产品可靠性。
实用新型内容
为了克服上述现有技术存在的缺陷,本实用新型的目的在于提供一种高温反偏试验设备,其体积小、便于试验使用,可以分析产品性能,提高产品可靠性。
为了实现上述目的,本实用新型的技术方案是:
一种高温反偏试验设备,包括一设备主体,所述设备主体的上端面上设置有复数通孔,每个所述通孔内设有一试验基座,所述试验基座上设置有三个供三极管/二极管的引脚插入用的插入孔,所述复数个试验基座均与电线电性连接,并与所述设备主体固定连接。
作为本实用新型的优选方案之一,所述插入孔的两侧均设置有支撑块。
作为本实用新型的优选方案之一,所述试验基座包括一凸出部及一固定片,所述凸出部通过通孔凸出设备主体的上端面,所述固定部设置于设备主体上端面的下方,并与设备主体用螺丝固定连接。
作为本实用新型的优选方案之一,所述设备主体为一长方体,为中空结构。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
本实用新型结构简单,成本低,体积小,可以方便快捷的得知三极管/二极管在承受设定温度、设定电流下的最长工作时间,便于试验使用,可以分析产品性能,提高产品可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型的结构特征和技术要点,下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。
图1是本实用新型实施例公开的高温反偏试验设备的结构示意图;
图2是本实用新型实施例公开的试验基座的结构示意图。
附图标记说明:1-设备主体,2-通孔,3-试验基座,31-凸出部,31a-插入孔,31a-支撑块,33-螺丝。
具体实施方式
下面将结合本实施例中的附图,对实施例中的技术方案进行具体、清楚、完整地描述。
参见图1所示,为本实施例的高温反偏试验设备,它包括一设备主体1,所述设备主体1为一长方体,为中空结构。
所述设备主体1的上端面上设置有复数通孔2,每个所述通孔2内设有一试验基座3,所述试验基座3均与电线电性连接,并与所述设备主体1通过螺丝33固定连接。
所述试验基座3包括一凸出部31及一固定部(图中未显示),所述凸出部31通过通孔2凸出设备主体1的上端面,所述固定部设置于设备主体1上端面的下方,并与设备主体1用螺丝33固定连接。该试验基座3的凸出部31上设置有三个供三极管/二极管的引脚插入用的插入孔31a,所述插入孔31a的两侧均设置有支撑块31b。
试验时,先设定好工作的温度、电流,接通电源,将待试验的若干个三极管/二极管分别插入插入孔31a,加温,调节电流,就可得知该三极管/二极管能在承受设定温度、电流通电情况下,能工作多长时间,在同电一定时间后,断掉电源,统计在该工作情况下,该些三极管/二极管的不良率,如此便可分析产品性能,从而提高产品可靠性。
综上所述,本实施例结构简单,成本低,体积小,可以方便快捷的得知三极管/二极管在承受设定温度、设定电流下的最长工作时间,便于试验使用,可以分析产品性能,提高产品可靠性。
上述具体实施方式,仅为说明本实用新型的技术构思和结构特征,目的在于让相关人士能够据以实施,但以上所述内容并不限制本实用新型的保护范围,凡是依据本实用新型的精神实质所作的任何等效变化或修饰,均应落入本实用新型的保护范围之内。
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