[实用新型]一种测量同位素热源表面温度的测量装置有效

专利信息
申请号: 201420244872.8 申请日: 2014-05-14
公开(公告)号: CN204043793U 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 刘国辉;罗洪义;秦少鹏;唐显;罗志福 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: G01J5/00 分类号: G01J5/00;G01J5/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 同位素 热源 表面温度 装置
【权利要求书】:

1.一种同位素热源表面温度测量装置,其特征在于:包括红外测温台、计算机控制和数据采集系统以及计算机数据处理系统,具体如下: 

一、红外测温台 

红外测温台主要由框架、红外探头、顶轴和转台构成;红外探头通过探头导轨连接在框架的立柱上,通过探头电机的驱动能够使红外探头沿探头导轨在竖直方向上滑动;顶轴上端固定在框架的横梁上,通过顶轴电机的驱动能够使轴杆沿竖直方向移动,轴杆下端通过轴承与带有固定针的压头相连接;顶轴下方设有转台,通过转台电机的驱动能够使转台转动,转台中央设有隔热底座; 

二、计算机控制和数据采集系统 

计算机控制和数据采集系统通过与红外测温台的红外探头、探头电机、顶轴电机和转台电机的连接,控制红外测温台的运行,采集红外探头的温度参数、各电机的运行参数以及相对应的时间参数; 

三、计算机数据处理系统。 

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