[实用新型]被动组件检测包装机

权利要求书

1.一种被动组件检测包装机，包括机台、进料模块及包装模块，该进料模块设于该机台上可供将数个被动组件依序向前传送；该包装模块设于机台上；其特征在于，该检测包装机还包括： 

分割盘，该分割盘可顺时针寸转地设在该机台上，该分割盘的周面等间隔设有数个缺槽，该分割盘的寸转角度为一格，使每一缺槽依序接收一个来自该进料模块的被动组件，并将其顺时针运送； 

层间测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行层间测试，以取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据； 

直流电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据； 

串联电感/电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值； 

第一极性测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向； 

极性转换器，设于该机台上且位于该第一极性测试器之后，可供将经该第一极性测试器检测出的反向的被动组件转换至正向； 

该包装模块设于该分割盘运送被动组件的路径上，可将检测完成及极性转换成正向的被动组件良品依序封装于包装条之中。 

2.如权利要求1所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述检测包装机更包括第二极性测试器，该第二极性测试器设在该机台上且位于该极性转换器之后，可对经过的被动组件进行极性测试，以确定被动组件的极性方向。 

3.如权利要求2所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述检测包装机更包括吸尘单元和CCD外观检测器，该吸尘单元设于该机台上且位于上述所有测试器、检测器及极性转换器之后，可供将缺槽中除被动组件以外的杂质吸出； 该CCD外观检测器设于该机台上可撷取经过的被动组件的影像并进行外观检查；所述机台上具有层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔、外观检测不良品排出孔及重测排除孔；该层间测试不良品排出孔位于该层间测试器之后，可将层间测式值超出标准范围的不良品排出；该直流电阻测试不良品排出孔位于该直流电阻测试器之后，可将直流电阻测试超值出标准范围的不良品排出；该串联电感测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出；该串联电阻测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出；该极性测试不良品排出孔位于该第二极性测试器之后但位于该吸尘单元之前，可将经该第二极性测试器确定为极性方向错误的被动组件排出；该外观检测不良品排出孔位于该CCD外观检测器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该CCD外观检测器检测出外观有瑕疵的被动组件排出；重测排除孔可于测试时万一测试仪器死机或停机，此时将分割盘上所有的被动组件全部排出到重测排除孔。 

4.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述机台上设有数个吹气单元，该吹气单元对应设于层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔及外观检测不良品排出孔处，可将分割盘的缺槽中相对应的不良品吹入相应的不良品排出孔中。 

5.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述层间测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。 

6.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述串联电感/ 电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。 

7.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述直流电阻测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。 

8.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述第一极性测试器及第二极性测试器分别具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧。 

9.如权利要求3所述的被动组件检测包装机，其特征在于，所述极性转换器具有可转动的旋转件，该旋转件位于该分割盘的外侧，于该旋转件的顶面具有贯通到两相对侧呈开口状的一容槽以供容纳该被动组件，该机台上设有两吹气单元分别位于该旋转件的内侧及外侧，位在内侧的吹气单元可将极性反向的被动组件由该分割盘的缺槽吹到该旋转件的容槽中，位在外侧的吹气单元可将经该旋转件旋转180度的极性正向的被动组件由该旋转件的容槽吹回该分割盘的缺槽中。