[实用新型]被动组件检测包装机

说明书

技术领域

本实用新型关于一种被动组件检测包装机结构，尤指一种可对被动组件进行层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查以及可快速转换被动组件的极性方向，而可大幅提升被动组件的检测、包装效率及可降低成本的被动组件检测包装机。 

背景技术

一般的被动组件在制作完成后，通常需进行层间测试、直流电阻测试、串联电感测式、串联电阻测式、外观检查等多项检测以取得相对应数据，并进行筛检后才会将良品以同一极性方向地封装于一包装条中以完成检测包装作业。而目前的被动组件为维持其检测速度，在进行上述各项数据的检测时，通常是分别依序运送到各种专门检测单项数据的检测机(如层间测试机、直流电阻测试机、串联电感测式机、串联电阻测式机及外观检查机等)进行检测及筛检，然后才会送到一包装机进行极性方向的测试、转换及包装。因此整个检测包装的流程的时间及人力会被大量浪费在被动组件于各检测机台之间的运送中，而使检测效率不佳与外观碰伤，尤其是如此多的被动组件检测机及包装机不但会占用大量的空间及人力，而且更是会使设备成本大幅增加。 

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：针对现有被动组件的检测包装流程中需经过多台的被动组件检测机及包装机方可达成，而存在的检测包装效率不佳、占空间及成本高等诸多问题，而提供一种被动组件检测包装机。 

为了解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种被动组件检测包装机，包括机台、进料模块及包装模块，该进料模块设于该机台上可供将数个被动组件依序向前传送；该包装模块设于机台上；其特点是，该检测包 装机还包括：分割盘，该分割盘可顺时针寸转地设在该机台上，该分割盘的周面等间隔设有数个缺槽，该分割盘的寸转角度为一格，使每一缺槽依序接收一个来自该进料模块的被动组件，并将其顺时针运送；层间测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行层间测试，以取得被动组件进行非破坏性的耐电气冲击数据；直流电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行直流电阻测试，以取得被动组件的直流电阻数据；串联电感/电阻测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行串联电感/电阻测试，以取得被动组件的串联电感值及串联电阻值；第一极性测试器，设于该机台上可对经过的被动组件进行极性测试，以取得被动组件的极性方向；极性转换器，设于该机台上且位于该第一极性测试器之后，可供将经该第一极性测试器检测出的反向的被动组件转换至正向；该包装模块设于该分割盘运送被动组件的路径上，可将检测完成及极性转换成正向的被动组件良品依序封装于包装条之中。 

所述检测包装机更包括第二极性测试器，该第二极性测试器设在该机台上且位于该极性转换器之后，可对经过的被动组件进行极性测试，以确定被动组件的极性方向。 

所述检测包装机更包括吸尘单元和CCD外观检测器，该吸尘单元设于该机台上且位于上述所有测试器、检测器及极性转换器之后，可供将缺槽中除被动组件以外的杂质吸出；该CCD外观检测器设于该机台上可撷取经过的被动组件的影像并进行外观检查；所述机台上具有层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔、外观检测不良品排出孔及重测排除孔；该层间测试不良品排出孔位于该层间测试器之后，可将层间测式值超出标准范围的不良品排出；该直流电阻测试不良品排出孔位于该直流电阻测试器之后，可将直流电阻测试超值出标准范围的不良品排出；该串联电感测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电感测试值超出标准范围的不良品排出；该串联电 阻测试不良品排出孔位于该串联电感/电阻测试器之后，可将串联电阻测试值超出标准范围的不良品排出；该极性测试不良品排出孔位于该第二极性测试器之后但位于该吸尘单元之前，可将经该第二极性测试器确定为极性方向错误的被动组件排出；该外观检测不良品排出孔位于该CCD外观检测器之后但位于该吸尘单元之前，可供将经该CCD外观检测器检测出外观有瑕疵的被动组件排出；重测排除孔可于测试时万一测试仪器死机或停机，此时将分割盘上所有的被动组件全部排出到重测排除孔。 

所述机台上设有数个吹气单元，该吹气单元对应设于层间测试不良品排出孔、直流电阻测试不良品排出孔、串联电感测试不良品排出孔、串联电阻测试不良品排出孔、极性测试不良品排出孔及外观检测不良品排出孔处，可将分割盘的缺槽中相对应的不良品吹入相应的不良品排出孔中。 

所述层间测试器具有同步升降的数根探针，该探针位在该分割盘的相对应缺槽的下侧，该探针上升时可接触该相对应缺槽中的被动组件以进行充压及检测出相对应的数据。