[实用新型]一种低电极电阻的晶体硅太阳能电池有效
申请号: | 201420354573.X | 申请日: | 2014-06-30 |
公开(公告)号: | CN203932076U | 公开(公告)日: | 2014-11-05 |
发明(设计)人: | 石强;金浩;蒋方丹;陈康平;郭俊华;姚军晔 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/04 |
代理公司: | 浙江杭州金通专利事务所有限公司 33100 | 代理人: | 吴关炳 |
地址: | 314416 浙江省嘉*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电极 电阻 晶体 太阳能电池 | ||
技术领域
本实用新型属于太阳能应用技术领域,特别是涉及一种低电极电阻的晶体硅太阳能电池。
背景技术
现有技术的晶体硅太阳能电池的正面电极设计如图1所示,电极分为主栅线和副栅线,其相互垂直,两种栅线是通过丝网印刷Ag导电浆料直接印刷在氮化硅减反膜上。这种结构可以称为栅指状电极,其中Ag电极面积占硅片正面面积的6%-7%。由于Ag电极的面积小,本身的电阻很大;就副栅而言,其电极电阻相当于n条副栅并联后的电阻值。而要降低副栅电极本身的电阻,可以增加副栅的宽度和数目,但这样会遮光,降低了太阳能电池的转换效率。
发明内容
本实用新型的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种低电极电阻的晶体硅太阳能电池,降低太阳能电池的正面电极电阻,提高电池转换效率。
本实用新型解决技术问题所采取的技术方案是,一种低电极电阻的晶体硅太阳能电池,自下而上包括背面Ag电极、Al背场、P型Si基片、N+层、SiNx减反膜层、Ag副栅线和Ag主栅线,其特征在于,还包括透明导电薄膜层,所述的透明导电薄膜层位于Ag副栅线之间,所述SiNx减反膜层之上,与所述Ag副栅线间留有缝隙。
所述的透明导电薄膜层与Ag副栅线间的缝隙宽度为10-30nm。
所述的透明导电薄膜层的厚度为20-40nm。
所述的透明导电薄膜层为ITO、AZO、ZnO或IMO的沉积层。AZO即掺铝氧化锌,是指在纯的氧化锌中掺杂一定比例的铝,铝的比例可以根据需要进行调控,通常为0.1%w/w -15%w/w,优选为2%w/w;IMO即掺Mo氧化铟,是指在纯氧化铟中掺杂一定比例的Mo,通常为0.1%w/w -15%w/w,优选为2.5%w/w;ITO即掺锡氧化铟,是指在纯氧化铟中掺杂一定比例的Sn,通常为为0.1%w/w -20%w/w,优选为3.5%w/w;ZnO为氧化锌。
本实用新型通过透明导电氧化物薄膜(英文缩写为TCO)的沉积,如ITO、AZO、ZnO或IMO,借助TCO的高透光率和低电阻率,在保证正面透光率基本不变的情况下,降低太阳能电池的正面电极电阻,从而降低电池的串联电阻,提高电流密度,提升电池转换效率。在正面沉积TCO薄膜时,通过遮盖副栅线,在TCO和副栅线之间保留一定距离,使得TCO电极和Ag副栅线并联,降低主栅以外的正面电极的电阻,从而大大降低电池的串联电阻;由于没有影响氮化硅和N+层的接触面积,钝化效果好,电池转换效率大大提高。
本实用新型的优点是在保证硅片表面钝化效果的基础上,借助透明导电薄膜的高透光率和低电阻率,降低太阳能电池的正面电极电阻,从而提高电池转换效率。
附图说明
图1现有技术晶硅太阳能电池的正面电极结构示意图。
图2为本实用新型一种具体实施方式结构示意图。
图3为图2所示本实用新型一种具体实施方式正面结构示意图。
图4为图3中A处放大图。
图中:1-背面Ag电极、2-Al背场、3-P型Si基片、4-N+层、5-SiNx减反膜层、7-Ag副栅线,8-Ag主栅线,6-透明导电薄膜层,9-透明导电薄膜层与Ag副栅线间的缝隙。
具体实施方式
实施例1:如图2、图3和图4所示,该低电极电阻的晶体硅太阳能电池自下而上包括背面Ag电极1、Al背场2、P型Si基片3、N+层4、SiNx减反膜层5、Ag副栅线7和Ag主栅线8,在Ag副栅线之间SiNx减反膜层5之上还设有透明导电薄膜层6。 透明导电薄膜层6位于Ag副栅线7之间,与Ag副栅线7间留有宽度为10-30nm的缝隙9。透明导电薄膜层为ZnO沉积而成的厚度为20-40nm的透明导电薄膜,能保证300-1100nm的光的透过率在90%以上,其电阻率<3×10-4Ω.cm。
实施例2:透明导电薄膜层为AZO(即掺铝氧化锌,其中铝为2%w/w)沉积而成的厚度为20-40nm的透明导电薄膜,能保证300-1100nm的光的透过率在90%以上,其电阻率<3×10-4Ω.cm。
实施例3:透明导电薄膜层为IMO(掺Mo氧化铟,其中Mo为2.5%w/w)沉积而成的厚度为20-40nm的透明导电薄膜,能保证300-1100nm的光的透过率在90%以上,其电阻率<3×10-4Ω.cm。
实施例4:透明导电薄膜层为ITO(掺锡氧化铟,其中锡为3.5%w/w)沉积而成的厚度为20-40nm的透明导电薄膜,能保证300-1100nm的光的透过率在90%以上,其电阻率<3×10-4Ω.cm。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的