[实用新型]新型IC测试座

权利要求书

1.新型IC测试座，其特征在于，包括，

底座，其上设置有转轴；

设置在底座上方的上盖，其上固定有定位销，定位销与转轴平行；

弹性元件，设置在底座和上盖之间并用于提供一个将上盖朝着远离底座的方向推动的弹性应力；

压块，其上设置有一与转轴转动配合的枢孔，压块上位于枢孔的一侧形成一个用于将待测试的IC上表面向下顶压的压紧端，压块上位于枢孔的另一侧设置有一供定位销穿入的长孔；

固定在底座下表面定位框；

可拆卸的固定在定位框下表面的PCB板；

夹持在PCB板和定位框之间的导电胶板，导电胶板下表面设置有与PCB板接触导通的下接触端、上表面设置有用于与待测试IC接触的上接触端。

2.如权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，弹性元件为分别设置在底座和上盖四个端角之间的弹簧。

3.如权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，底座和上盖上均设置有与定位框的内部空间对应的开口。

4.如权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，底座的下表面设置有安装座，转轴安装在安装座上，定位框上设置有避让安装座的凹位。

5.如权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，上盖的下表面设置有连接座，定位销安装在连接座上，底座上设置有避让连接座的凹槽。

6.如权利要求1所述的新型IC测试座，其特征在于，该新型IC测试座包括两个相对设置的压块，两压块的的压紧端位于其二者彼此靠近的一侧。