[实用新型]BGA芯片的植球工具有效
申请号: | 201420481106.3 | 申请日: | 2014-08-25 |
公开(公告)号: | CN204067308U | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 袁敏 | 申请(专利权)人: | 烽火通信科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人: | 魏殿绅;庞炳良 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | bga 芯片 工具 | ||
技术领域
本实用新型涉及用于芯片的植球工具,具体涉及BGA芯片的植球工具
背景技术
20世纪90年代,随着技术的进步,芯片集成度不断提高,I/O引脚数量急剧增加,功耗也随之增大,对集成电路封装的要求也更加严格。为了满足发展的需要,BGA封装开始被应用于生产,BGA(英文Ball Grid Array Package)即球栅阵列封装技术,BGA封装的I/O端子以圆形或柱状焊点按阵列形式分布在封装下面,并排列成一个类似于格子的图案,该技术具有以下优点:I/O引脚数虽然增多,但引脚之间的距离大,提高了成品率;虽然BGA的功耗增加,但由于采用的是可控塌陷芯片法焊接,从而可以改善电热性能;信号传输延迟小,适应频率大大提高;组装可用共面焊接,可靠性大大提高。因此BGA为CPU、主板南、北桥芯片等高密度、高性能、多引脚封装的最佳选择,很多芯片器件厂家所使用,BGA封装的芯片也就越来越普及。
由于BGA引脚多为含锡的材料,在进行电路板组装过程中,器件因经高温焊接,器件上的焊锡会融化,并与电路板上的线路端熔接在一起,如果BGA器件需要返修从电路板上拆卸下来时,由于引脚材料在高温下融化变形,器件拆卸下来后,BGA的引脚就变成杂乱不堪的形状,这时的BGA芯片是无法使用的,因此芯片需要重新植入新的焊锡球。
现有的BGA植球工艺通常采用钢网模板进行,如中国发明专利CN102881599A公开的BGA植球工艺,把钢网装到印刷机上进行对位固定,并把锡膏涂到钢网上;把若干个BGA装在载具上,并将载具安装到印刷机上,使钢网与载具重合进行锡膏印刷;印刷完成后,检查每个BGA焊盘上的锡膏是否印刷均匀,确认印刷OK后,放到回流焊烘烤,完成植球。上述工艺中存在以下缺点:
(1)需要钢网模板与芯片的阵列方式、焊球的大小和间距一一对应,通用性差;
(2)钢网模板四周需要用垫块架高,使其与印好助焊剂或焊膏的BGA器件保持精确距离,操作繁琐,需要操作人员具有娴熟的操作技巧;
(3)由于不同芯片的厚度和大小不一,有的还需要在返修台上进行操作,因此,上述工艺不适用于各种芯片的统一维修。
由此可见,现有的BGA植球工艺通用性差、操作繁琐,不适用于各种芯片的统一维修。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是现有BGA芯片的植球工艺通用性差、操作繁琐,不适用于各种芯片的统一维修的问题。
为了解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是提供一种BGA芯片的植球工具,包括芯片放置台和设置在所述芯片放置台上的植球模板,所述芯片放置台的顶面上设有用于放置BGA芯片的垫块;
所述植球模板包括上、下夹板和夹设在所述上、下夹板之间的钢网模板,所述上、下夹板的中心处设有上下贯通的通孔,所述上、下夹板上围绕所述通孔设有多组贯通的螺纹孔,其中一组所述螺纹孔内螺装有调节螺栓。
在上述BGA芯片的植球工具中,各组所述贯通的螺纹孔的直径不同。
在上述BGA芯片的植球工具中,所述上、下夹板通过过装配螺栓固定,将所述钢网模板固定在所述上、下夹板之间。
本实用新型提供的植球工具,能让焊球顺利通过钢网模板的网孔落至芯片上的焊点,制造简单,成本低廉。
另外,钢网模板设有不同规格,且网孔阵列数可覆盖大部分芯片的阵列数,因此可用于大部分芯片的维修,不受芯片的引脚数和厚度限制,通用性强。
附图说明
图1为本实用新型精确对位后的主视图;
图2为本实用新型的结构示意图;
图3为本实用新型中的植球模板的分解图。
具体实施方式
本实用新型提供了一种BGA芯片植球工具,BGA芯片放置于芯片放置台的垫块上,通过高度调节装置调节夹板的高度,使钢网模板位于BGA芯片上方约为一个焊球直径的距离,并使钢网模板上的网孔和芯片上的焊点对准,能让焊球顺利通过网孔落至焊点。下面结合具体实施例和说明书附图对本实用新型予以详细说明。
如图1所示,本实用新型提供的BGA芯片植球工具包括芯片放置台1和设置在芯片放置台1上的植球模板2。
如图2和图3所示,芯片放置台1包括工作台11和设在工作台11上表面的垫块12,垫块12的上表面设有用于固定BGA芯片的定位卡槽,待加工的的BGA芯片10放置在垫块12上的定位卡槽中。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造