[实用新型]一种PMU测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于芯片生产测试技术领域，尤其涉及一种PMU测试装置。

背景技术

目前，在芯片的实际生产过程中，都需要对芯片的PMU(Power Management Unit，电源管理单元)的功能进行测试。现有的测试方式是使用测试仪中所集成的PMU测试通道对芯片进行电流和电压测试，然而，现有的测试仪还存在以下不足之处：

(1)体积大和成本高；

(2)测试过程较为复杂导致测试时间长，进而使延长了芯片的生产周期。

(3)PMU测试通道较少而无法通过多引脚同时对芯片进行测试，只能通过引脚切换来实现，从而增加了测试时间。

综上可知，现有的测试仪存在体积大、成本高且测试时间长的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种PMU测试装置，旨在解决现有的测试仪所存在的体积大、成本高且测试时间长的问题。

本实用新型是这样实现的，一种PMU测试装置，其包括USB转串口通信模块、主控芯片、模式选择模块及PMU测试模块；

所述USB转串口通信模块的USB接口与外部的电脑或上位机连接，所述USB转串口通信模块的数据发送端和数据接收端分别连接所述主控芯片的数据接收端和数据发送端，所述主控芯片的第一模式选择端和第二模式选择端分别连接所述模式选择模块的第一输出端和第二输出端，所述主控芯片的数模转换连接端与所述PMU测试模块中的数模转换单元连接，所述主控芯片的模数转换连接端与所述PMU测试模块中的模数转换单元连接，所述主控芯片的测试端与所述PMU测试模块中的电源测试芯片连接，所述电源测试芯片连接所述数模转换单元的电压输出端和所述模数转换单元的电流电压输入端，所述电源测试芯片通过外部的芯片连接装置与待测芯片连接；所述主控芯片的引脚数量大于100。

本实用新型通过采用包括USB转串口通信模块、主控芯片、模式选择模块及PMU测试模块的PMU测试装置，其结构简单、体积小且成本低；由于主控芯片的引脚数量大于100，所以可满足通过不同数量的引脚对芯片进行测试的要求，且不需要进行引脚切换，从而提高了测试效率并缩短测试时间。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的PMU测试装置的模块结构图；

图2是图1所示的PMU测试装置中的USB转串口通信模块的内部电路结构图；

图3是图1所示的PMU测试装置中的主控芯片的结构示意图；

图4是图1所示的PMU测试装置中的模式选择模块的内部电路结构图；

图5是图1所示的PMU测试装置中的数模转换单元的内部电路结构图；

图6是图1所示的PMU测试装置中的模数转换单元的内部电路结构图；

图7是图1所示的PMU测试装置中的电源测试芯片的结构示意图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1示出了本实用新型实施例提供的PMU测试装置的模块结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型实施例相关的部分，详述如下：

PMU测试装置包括USB转串口通信模块100、主控芯片200、模式选择模块300及PMU测试模块400。

USB转串口通信模块100的USB接口与外部的电脑或上位机连接，USB转串口通信模块100的数据发送端和数据接收端分别连接主控芯片200的数据接收端和数据发送端，主控芯片200的第一模式选择端和第二模式选择端分别连接模式选择模块300的第一输出端和第二输出端，主控芯片200的数模转换连接端与PMU测试模块400中的数模转换单元401连接，主控芯片200的模数转换连接端与PMU测试模块400中的模数转换单元402连接，主控芯片200的测试端与PMU测试模块400中的电源测试芯片403连接，电源测试芯片403连接数模转换单元401的电压输出端和模数转换单元402的电流电压输入端，电源测试芯片403通过外部的芯片连接装置500与待测芯片600连接；主控芯片200的引脚数量大于100。

进一步的，如图2所示，USB转串口通信模块100包括：

第一电阻R1、第一电容C1、接口通讯芯片U1、第二电容C2、晶振Y1、第三电容C3、第四电容C4、第五电容C5、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4以及USB接口J1；