[实用新型]基于三输入保护门的抗辐射锁存器有效

专利信息
申请号: 201420549291.5 申请日: 2014-09-23
公开(公告)号: CN204258775U 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 徐江涛;闫茜;姚素英;聂凯明;史再峰;高志远 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H03K19/094 分类号: H03K19/094
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 刘国威
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 基于 输入 保护 辐射 锁存器
【权利要求书】:

1.一种基于三输入保护门的抗辐射锁存器,其特征是,由6个传输门TG1~6,3个反相器INV1~3,3个二输入保护门DIG1~3和一个三输入保护门构成,有三路相同的输入信号分别对应输入到输入端D1、D2、D3,输入端D1、D2、D3分别依次对应通过传输门TG1、传输门T G2、传输门TG3送入对应的二输入保护门DIG1~3,输入信号经输入端D1、输入端D2作为二输入保护门DIG1的输入,二输入保护门DIG1的输出A经过反相器INV1和传输门TG4连至输入端D1;输入端D2、输入端D3作为二输入保护门DIG2的输入,二输入保护门DIG2的输出B经由反相器INV2和传输门TG5连至输入端D2;输入端D1、输入端D3作为二输入保护门DIG3的输入,二输入保护门DIG3的输出C经反相器INV3和TG6连至输入端D3;输出A、B、C作为三输入保护门TIG的输入信号,三输入保护门TIG输出为Q。

2.如权利要求1所述的基于三输入保护门的抗辐射锁存器,其特征是,二输入保护门DIG结构为,使用两个PMOS管PM1和PM2串联,两个NMOS管NM1和NM2串联;PM1的源级接VDD,PM2的漏极接NM2的漏极,NM1的源级接GND,PM1和NM1的栅极作为一个输入A,PM2和NM2的栅极作为另一个输入B,PM2和NM2的漏极作为输出O。

3.如权利要求1所述的基于三输入保护门的抗辐射锁存器,其特征是,三输入保护门TIG的结构为:使用三个PMOS管PM4、PM5、PM6串联,三个NMOS管NM4、NM5、NM6串联;PM1的源级接VDD,PM3的漏极接NM3的漏极,NM1的源级接GND,PM1和NM1的栅极作为一个输入A,PM2和NM2的栅极作为另一个输入B,PM3和NM3的栅极作为另一个输入C,PM3和NM3的漏极作为输出O。

4.如权利要求1所述的基于三输入保护门的抗辐射锁存器,其特征是,所用晶体管的宽长比如表1所示:

表1

单元 PMOS/最小尺寸 NMOS/最小尺寸 开关 1 1 反相器 2 1 DIG 4 2 TIG 6 3

电路中传输门所用晶体管采用最小尺寸,反相器的P管的宽度是最小宽度的2倍,来保证上升时间和下降时间的一致,DIG所用晶体管尺寸是反相器的2倍,TIG所用晶体管的尺寸是反相器的3倍。

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