[实用新型]可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构有效

专利信息
申请号: 201420632928.7 申请日: 2014-10-29
公开(公告)号: CN204144265U 公开(公告)日: 2015-02-04
发明(设计)人: 赵喜高 申请(专利权)人: 深圳市可易亚半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 减少 功率 器件 通电 栅极 衬垫 结构
【权利要求书】:

1.一种可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,包括:第一漂移层、形成于所述第一漂移层中的数个有源单元、形成于所述第一漂移层与数个有源单元上的数条栅极衬垫条、以及形成于所述数个有源单元与数条栅极衬垫条上的钝化层,每一所述栅极衬垫条的中心部位位于两相邻有源单元之间的第一漂移层的上方。

2.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述栅极衬垫条呈长方体状。

3.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述栅极衬垫条的宽度为2-10um,相邻两栅极衬垫条之间的间距为5-15um。

4.根据权利要求3所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述栅极衬垫条的宽度为6um,相邻两栅极衬垫条之间的间距为9um。

5.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,还包括数个绝缘层,所述绝缘层的数量等于所述栅极衬垫条的数量,每一所述绝缘层设形成于一栅极衬垫条的下方。

6.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,还包括形成于所述钝化层上的金属层以及形成于所述第一漂移层下方的第二漂移层,所述第一与第二漂移层均为N型漂移层。

7.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述有源单元的面积为15um×15um,所述有源单元的数量为2-3200。

8.根据权利要求1所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述有源单元包括:P-掺杂区、以及形成于所述P-掺杂区中的P+掺杂区与两N+掺杂区,所述P+掺杂区位于所述P-掺杂区内部的中下方,所述两N+掺杂区对称设于所述P-掺杂区内。

9.根据权利要求8所述的可减少功率器件导通电阻的栅极衬垫结构,其特征在于,每一所述P-掺杂区的厚度为3um,每一所述N+掺杂区的厚度为0.5um。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市可易亚半导体科技有限公司,未经深圳市可易亚半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420632928.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top