[实用新型]发光二极管分光检测装置有效

专利信息
申请号: 201420653699.7 申请日: 2014-11-04
公开(公告)号: CN204241187U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 张书恒 申请(专利权)人: 光硕光电科技(上海)有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 上海百一领御专利代理事务所(普通合伙) 31243 代理人: 马育麟
地址: 201112 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 分光 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种发光二极管分光检测装置,其特征在于,包括:

一分光组件,

所述分光组件包括一第一连接座、一第二连接座和一分光镜,所述第一连接座设有一第一安装槽,所述第二连接座设有一第二安装槽,所述第一安装槽的规格和所述第二安装槽相同,所述第一连接座一体连接于所述第二连接座,所述分光镜内嵌于所述第一连接座和所述第二连接座,所述第一连接座和所述第二连接座支撑于所述分光镜,所述分光镜将发光二极管通电激发的一入射光束均匀分光为两束出射光束;

一光谱仪接口组件,

所述光谱仪接口组件可拆卸地连接于所述第一连接座的所述第一安装槽或所述第二连接座的所述第二安装槽,光谱仪检测入射于所述光谱仪接口组件的所述出射光束的光参数;和

一亮度检测组件,

所述亮度检测组件可拆卸地对应连接于所述第二连接座的所述第二安装槽或所述第一连接座的所述第一安装槽,所述亮度检测组件包括一测光部,所述测光部检测入射于所述亮度检测组件的所述出射光束的亮度参数。

2.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,其特征在于:所述第一安装槽的内壁进一步设有内螺纹,所述第二安装槽的内壁进一步设有内螺纹,所述光谱仪接口组件和所述亮度检测组件分别螺纹连接于所述第一安装槽和所述第二安装槽。

3.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述第一连接座设有一第一分光槽,所述第二连接座设有一第二分光槽,所述第一分光槽和所述第二分光槽形成一分光镜收容腔,所述分光镜内嵌于所述分光镜收容腔,所述分光镜内置于所述分光镜收容腔。

4.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述第一连接座设有一第一贯通腔和一第三贯通腔,所述第二连接座设有一第二贯通腔,所述入射光束入射于所述第一连接座的所述第一贯通腔,两束所述出射光束分别入射于所述第一连接座的所述第三贯通腔和所述第二连接座的所述第二贯通腔。

5.如权利要求3中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述第一连接座设有一第一贯通腔和一第三贯通腔,所述第二连接座设有一第二贯通腔,所述入射光束入射于所述第一连接座的所述第一贯通腔,所述第一贯通腔和所述第二贯通腔和所述第三贯通腔分别贯通于所述分光镜收容腔,所述分光镜将所述入射光束分光为两束所述出射光束,两束所述出射光束分别入射于所述第一连接座的所述第三贯通腔和所述第二连接座的所述第二贯通腔。

6.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述光谱仪接口组件进一步包括一透镜部,所述透镜部包括一聚焦透镜,所述透镜部可拆卸地安装于所述光谱仪接口组件,所述出射光束入射于所述透镜部的所述聚焦透镜形成一焦点,所述光谱仪检测所述焦点处的所述出射光束的光参数。

7.如权利要求6中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述光谱仪接口组件进一步包括一调节部,所述调节部包括一滑轨和一滑块,所述滑块滑动安装于所述滑轨,所述滑块连接于所述光谱仪的光纤,所述滑块带动连接于所述滑块的所述光纤调整至所述焦点,所述光谱仪检测所述焦点处的所述出射光束的光参数。

8.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述光谱仪接口组件进一步包括一光衰部,所述光衰部可移动地安装于所述光谱仪接口组件,所述光衰部包括多个光衰片,所述光衰片具有不同衰减程度,所述出射光束入射于所述光衰部的所述光衰片。

9.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述亮度检测组件进一步包括一滤光部,所述滤光部可拆卸地安装于所述亮度检测组件,所述滤光部包括至少一滤光镜,所述滤光部过滤所述入射光束一个或多个特定波长的光。

10.如权利要求1中所述的一种发光二极管分光检测装置,所述亮度检测组件进一步包括一传输部,所述测光部包括一亮度传感器,所述传输部内置于所述亮度检测组件,所述传输部包括一BNC接口,所述亮度传感器检测所述出射光束的所述亮度参数,所述BNC接口传输所述亮度传感器生成的电信号。

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