[实用新型]发光二极管分光检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种发光二极管光参数检测装置，属于发光二极管测试设备领域，尤其涉及一种发光二极管分光检测装置，发光二极管光束经分光镜分光，分别由光谱仪和亮度检测组件检测光参数。

背景技术

随着发光二极管(light-emitting diode,LED)的生产工艺逐渐成熟，生产制造成本逐渐降低，发光二极管应用越来越广泛。发光二极管相较于传统光源，如白炽灯，发光二极管具有集成度高、能量转化效率高、故障率低、抗冲击、输入电压范围宽等优点。同等发光强度，发光二极管的功率远小于白炽灯的功率。另一方面，随着经济社会发展，现代人对生活品质有了更高的要求，对照明设备的要求越来越高，采用发光二极管代替传统灯具，如白炽灯、荧光灯，甚至更原始的煤油灯、蜡烛等，同等照明强度和照明范围，发光二极管可以节约可观的能源，减少能源浪费，长期使用可节约可观的成本。

发光二极管本质上由PN结组成，具有单向导电性，当放光二极管的两极接通正向压降时，激发的自由电子和空穴复合，同时对外以光波形式辐射能量，宏观上即将电能转化为光能，同时发光二极管的转化效率高，自由电子和空穴结合时仅有少量电能转化为热能散失，绝大部分电能均转化为光能，向外辐射不同波长的单色光。

发光二极管在生产抽检及质检等环节，需检测发光二极管的光电参数，其中，电参数包括发光二极管的正向压降、反向击穿电压、漏电流等参数，光参数包括主波长、峰值波长、半波宽、亮度等参数。值得注意的是，现有的发光二极管测试设备，在光参数检测环节，发光二极管的亮度参数需要由专用的亮度检测组件检测，其余光参数，如主波长、峰值波长、半波宽等参数由光谱仪检测。

一方面，由于用于检测亮度参数的亮度检测组件与用于检测其余光参数的光 谱仪存在相互干扰，发光二极管的光束必须分别检测亮度参数以及其他参数，换句话说，发光二极管的光束必须经由分光镜分光为两束光束，由亮度检测组件和光谱仪分别检测发光二极管光束的亮度参数和主波长、峰值波长、半波宽等光参数。

由于光纤连接不可小角度弯曲，传统发光二极管测试设备的亮度检测组件和光谱仪安装位置固定，由于不同探针台(Prober)的光纤位置不同，存在光纤从探针台侧面引入和顶面引入两种常见模式。当光纤从某常见的探针台侧面引入，然而光谱仪安装于发光二极管测试设备的顶面，光纤由于全反射特性无法在短距离内小角度弯曲，否则曲率过大的光纤极易造成光通量泄露和衰减，因此，传统的发光二极管测试设备无法满足同时检测光纤从侧面引入和光纤从顶面引入两种模式。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管分光检测装置的亮度检测组件和光谱仪接口组件的安装位置可以互换。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管激发生成的光束分光为两束光束，分别由亮度检测组件和光谱仪检测发光二极管光束的亮度参数和主波长、峰值波长、半波宽等光参数。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管激发生成的光束经由分光镜分光为两束光束，分别由亮度检测组件和光谱仪检测发光二极管光束的亮度参数以及主波长、峰值波长、半波宽等光参数。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管激发生成的光束经由分光镜均匀分光，两束光束互不干扰，提高光参数检测稳定性。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，可微调发光二极管分光检测装置相对垂直或平行于探针台的位置，便于对准光斑。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管分光检测装置的基座可由第一定位孔固定于探针台的不同的位置，便于微调基座相对平行于探针台的位置，便于对准光斑。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管 分光检测装置的第一连接座可由第二定位槽固定于基座的不同的左右位置，便于微调第一连接座相对垂直于探针台的位置，便于对准光斑。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管分光检测装置的分光镜与水平面形成的夹角为45°，便于分光镜将发光二极管光束分光为两束相互垂直的光束。

本实用新型的另一目的在于提供一种发光二极管分光检测装置，发光二极管分光检测装置的分光镜连接于分光镜微调部，分光镜微调部可微调分光镜与水平面形成的夹角，将夹角精确控制于45°，分光镜微调部可补偿发光二极管分光检测装置与水平面形成的微小夹角。