[实用新型]具有RFID识别块的晶圆承盘有效
申请号: | 201420746189.4 | 申请日: | 2014-12-02 |
公开(公告)号: | CN204257616U | 公开(公告)日: | 2015-04-08 |
发明(设计)人: | 罗郁南 | 申请(专利权)人: | 晨州塑胶工业股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/66 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 台中市大*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 rfid 识别 晶圆承盘 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种电子组件的承盘结构,特别是关于一种具有RFID识别块的晶圆承盘。
背景技术
现今社会高科技产业蓬勃发展,晶圆制造产业亦然,晶圆于运送过程中通常是藉由自动化系统运送,晶圆于搬运或者是制造过程中大多是将晶圆容置于一承盘的容槽内,藉由承盘的结构防止晶圆受到外力撞击造成不当损伤,增加隐性的成本。
晶圆承盘因重复使用一段时间后便会造成磨损或损害的情形,因此晶圆承盘具有使用次数的限制,普通晶圆承盘的使用情形皆是重复使用至不堪使用、甚至使用至该承盘损坏后再予以更新,当晶圆承盘损坏的当下,放置于承盘内的晶圆亦无法幸免于难,如此一来增加了晶圆于运送中受损的风险,因此需要一种能够计算晶圆承盘使用次数的晶圆承盘结构,让使用者能于晶圆承盘损坏前即能得知并及时更换,大幅降低晶圆于运送中损害的风险。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种具有RFID识别块的晶圆承盘,能够计算晶圆承盘使用次数的晶圆承盘结构。
为解决上述问题,本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘,包含:
一承盘本体,该承盘本体具有多个承载槽及至少一识别块槽,各该承载槽是成形于该承盘本体的一端;各该识别块槽是开设于该承盘本体的周围;
至少一识别块,各所述识别块是分别崁入各该识别块槽,各该识别块是用以识别放置于该承盘本体上晶圆的种类;以及
至少一RFID晶片,各所述RFID晶片是分别固定结合于各该识别块。
本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘藉由将各该RFID晶片分别固定结合于各该识别块,又将各该识别块崁入该承盘本体的识别块槽,藉此使RFID晶片能随着该承盘本体移动,进而达成累计该承盘本体使用次数的目的。
附图说明
图1为本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘的立体图。
图2为本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘的分解图。
图3为本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘的局部放大图。
图4A为本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘的剖面图。
图4B为本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘另一状态的剖面图。
附图标记说明
承盘本体 10
承载槽 11
识别块槽 12
半圆凸槽 121
矩形凸槽 122
识别块 20
半圆凸部 21
矩形凸部 22
RFID晶片 30
具体实施方式
本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘如图1至图4B所示,包括:
一承盘本体10,该承盘本体10具有多个承载槽11及至少一识别块槽12,各该承载槽11是成形于该承盘本体10的一端,各该承载槽11是用以容置晶圆;各该识别块槽12是开设于该承盘本体10的周围;各该识别块槽12内缘相对两侧是分别具有一半圆凸槽121,各该识别块槽12内缘与具有该半圆凸槽121的相对两侧接邻的一边具有一矩形凸槽122;
至少一识别块20,各该识别块20是分别崁入各该识别块槽12,各该识别块20的两侧分别具有一半圆凸部21,各该识别块20与具有该半圆凸部21的相对两侧接邻的一边具有一矩形凸部22,各该识别块20外缘形状是与各该识别块槽12内缘的形状相互配合,各该识别块20的半圆凸部21形状是与各该识别块槽12内缘的半圆凸槽121相互对应,各该识别块20的矩形凸部22形状是与各该识别块槽12内缘的矩形凸槽122的形状相互对应,各该识别块20分别具有一种颜色,其颜色选自多种的颜色,同一承盘本体10仅能崁入同一种颜色的识别块20,各该识别块20藉由不同颜色识别放置于该承盘本体10上晶圆的种类。
至少一RFID晶片30,各该RFID晶片30是分别固定结合于各该识别块20,其中各该RFID晶片30是可以嵌入的方式固定结合于各该识别块20,另各该RFID晶片30是可以粘合的方式固定设结合于各该识别块20的表面,各该RFID晶片30是用以感应及记数。
使用者于搬运或制造晶圆的过程中,是利用该晶圆承盘移动进出相配合的机台,由于本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘的识别块20是分别崁入各该识别块槽12,又各该识别块20是固定结合多个RFID晶片30,是以本实用新型具有RFID识别块的晶圆承盘于移动时,各该RFID晶片30亦随之移动,使用者便可透过各该RFID晶片30计算该承盘本体10进出相配合机台的次数,进而累计该承盘本体10的使用次数。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造