[实用新型]一种波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪

权利要求书

1.一种波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪，其特征在于，包括Silicon光电探测器、光电转换器、跨阻放大器、数据存储器、MCU、电源管理器、键盘和LCD显示器，

Silicon光电探测器的输出连接光电转换器后再连接跨阻放大器，MCU连接跨阻放大器、数据存储器、键盘、LCD显示器和电源管理器。

2.如权利要求1所述的波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪，其特征在于，所述的MCU是嵌入式Cortex M3核的ARM控制器。

3.如权利要求2所述的波长测试范围为660nm～850nm的光纤功率衰减测试仪，其特征在于，所述的Silicon光电探测器的输出接入跨阻放大器的同时，还连接第一跨接采样电阻、第二跨接采样电阻和第一电容，所述的第一跨接采样电阻和第二跨接采样电阻连接第一电子开关，跨阻放大器的输出连接第三电阻与第二电容组成的低通滤波电路。