[实用新型]半导体器件以及半导体封装体有效
申请号: | 201420870779.8 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN204441273U | 公开(公告)日: | 2015-07-01 |
发明(设计)人: | 栾竟恩 | 申请(专利权)人: | 意法半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/13 | 分类号: | H01L23/13;H01L23/31;H01L21/77 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 以及 半导体 封装 | ||
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:
半导体裸片;
硬质隔离层,形成于所述半导体裸片的表面上;
衬底;以及
非导电粘接层,位于所述硬质隔离层与所述衬底之间,以用于将所述硬质隔离层粘接至所述衬底。
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述半导体裸片包括接合焊盘,所述接合焊盘位于所述半导体裸片的与所述表面相对的另一表面处。
3.根据权利要求2所述的半导体器件,其特征在于,还包括引线,所述引线通过焊线连接至所述接合焊盘。
4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:
另一半导体裸片;以及
导电粘接层,用于将所述另一半导体裸片粘接至所述衬底。
5.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述非导电粘接层包括裸片附接膜或粘接胶。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述硬质隔离层为模制的层或旋涂的层。
7.一种半导体封装体,其特征在于,包括:
根据权利要求1至6中任一项所述的半导体器件;以及
模制化合物,被布置为封装所述半导体器件。
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