[实用新型]半导体器件以及半导体封装体有效

专利信息
申请号: 201420870779.8 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN204441273U 公开(公告)日: 2015-07-01
发明(设计)人: 栾竟恩 申请(专利权)人: 意法半导体有限公司
主分类号: H01L23/13 分类号: H01L23/13;H01L23/31;H01L21/77
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件 以及 半导体 封装
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

半导体裸片;

硬质隔离层,形成于所述半导体裸片的表面上;

衬底;以及

非导电粘接层,位于所述硬质隔离层与所述衬底之间,以用于将所述硬质隔离层粘接至所述衬底。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述半导体裸片包括接合焊盘,所述接合焊盘位于所述半导体裸片的与所述表面相对的另一表面处。

3.根据权利要求2所述的半导体器件,其特征在于,还包括引线,所述引线通过焊线连接至所述接合焊盘。

4.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,还包括:

另一半导体裸片;以及

导电粘接层,用于将所述另一半导体裸片粘接至所述衬底。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述非导电粘接层包括裸片附接膜或粘接胶。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述硬质隔离层为模制的层或旋涂的层。

7.一种半导体封装体,其特征在于,包括:

根据权利要求1至6中任一项所述的半导体器件;以及

模制化合物,被布置为封装所述半导体器件。

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