[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 201480004368.3 | 申请日: | 2014-01-17 |
公开(公告)号: | CN104903729B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | 森高通;中村和弘;铃木庆弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N35/10 | 分类号: | G01N35/10;G01N35/02 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强;严星铁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
1.一种自动分析装置,其特征在于,具备:
探针,其抽吸试剂或者试样,并向反应容器排出;
分注机构,其进行上述探针的上下以及水平移动;
抽吸排出机构,其使上述探针抽吸试剂或者试样,并向反应容器排出;
光度计,其分析上述反应容器内的试样;
节流部,其形成供上述探针插入的开口部;
清洗机构,其进行在上述节流部的上表面流动的清洗水的排出;
溢流部,其使从上述清洗机构排出的清洗水以不向上述开口部落下的方式沿水平方向通过而流下;
干燥机构,其配置于上述节流部的下方且对清洗水进行真空抽吸;以及
控制器,其控制上述分注机构、上述抽吸排出机构、上述清洗机构以及上述干燥机构的动作,
上述清洗机构、上述开口部以及上述溢流部按顺序沿水平方向配置,
上述节流部形成供从上述清洗机构排出的清洗水沿水平方向流动的流路,
上述控制器构成为,
在一边使清洗水从上述清洗机构排出一边由沿上述流路在水平方向上流动的该清洗水覆盖上述开口部的状态下,使上述探针朝向上述开口部下降,
在上述探针的前端通过上述开口部后,上述开口部成为由该清洗水覆盖的状态,而且在上述探针下降时,一边使上述探针下降,一边使清洗水从上述探针内排出,
在上述探针上升时,使清洗水从上述探针内排出,并且一边进行基于上述干燥机构的真空抽吸动作一边使上述探针上升。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述流路的比上述开口部靠下游侧的流路宽度小于靠上游侧的流路宽度。
3.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述节流部所形成的开口部具有该开口部的开口直径从上部朝向下部变小的形状。
4.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述控制器构成为,
在使上述探针的下降动作停止后,使上述清洗机构的清洗水的排出动作停止。
5.根据权利要求4所述的自动分析装置,其特征在于,
上述控制器构成为,
在使上述探针上升后,而且在上述探针的前端通过上述开口部前,停止从上述探针内排出清洗水。
6.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
上述干燥机构具有:
多个第一抽吸喷嘴,其沿垂直方向配置;以及
多个第二抽吸喷嘴,其沿垂直方向配置,且在上述探针插入于上述开口部的状态下配置在与上述第一抽吸喷嘴夹着上述探针的位置,
上述第一抽吸喷嘴和上述第二抽吸喷嘴沿垂直方向相互不同地配置。
7.根据权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于,
在从上述开口部落下的清洗水的废液部的下方具备电磁阀,
在利用从上述清洗机构排出的清洗水对上述探针进行清洗的过程中,上述电磁阀是打开状态,在利用从上述清洗机构排出的清洗水对上述探针进行了清洗后,上述电磁阀从打开状态成为关闭状态,在成为上述关闭状态后,开始基于上述干燥机构的上述真空抽吸。
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