[发明专利]将结构施加到元件尤其是角度测量系统的元件的方法有效
申请号: | 201480013632.X | 申请日: | 2014-03-08 |
公开(公告)号: | CN105008864B | 公开(公告)日: | 2017-10-24 |
发明(设计)人: | 兰多夫·卡尔·霍彻 | 申请(专利权)人: | 兰多夫·卡尔·霍彻 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人: | 沈同全,车文 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 结构 施加 元件 尤其是 角度 测量 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种借助于标记系统将结构,尤其是标记或铭文施加到至少一个元件的方法,并且涉及一种生产角度测量系统或角度测量系统的部件的方法,以及涉及一种借助于该方法生产的角度测量系统或角度测量系统的部件。
背景技术
在角度测量系统中,用于确定角度的刻度总是必须在高精确度的情况下来施加。从现有技术,具体地说从DE 100 19 499已知一种铭刻方法,其中,信号载体附接在具有旋转轴线的铭刻装置中,且信号载体绕该旋转轴线旋转。当施加标记时,信号载体的中心相对于旋转轴线的偏心距被探测,并且校正后的数值被考虑。
同样从现有技术,例如DE 10 2005 021 504已知,调节在铭刻系统的支承装置上待设有标记的主体,其中,调节通过在主体和支承装置上的标记的相互对准来进行。
然而,已知方法的缺点是,虽然考虑了待设有铭文的信号载体或元件相对于铭刻系统的参考轴线的偏心距,但元件在铭刻之后被安装到角度测量系统上,该系统可同样具有制造公差或不平衡。因为制造公差乃至角度测量系统自身的支座的动态不平衡并未被考虑,这又导致在距离测量或角度测量过程中的不准确。
为了抵消这些问题,角度测量系统自身必须制造成具有极高精确度,这是非常昂贵且复杂的。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于在元件上,具体地说在允许精确测量的角度测量系统的元件上生产结构的简化方法。
该目的通过本发明的生产结构的方法、如一种用于生产角度测量系统或角度测量系统的部件的方法以及一种测量系统或测量系统的部件实现。
术语“部件”被理解成是指单件式部件或多件式部件。
根据本发明,提供了一种通过标记系统,具体地说激光系统将结构,具体地说标记和/或铭文施加到至少一个元件的方法,其中所述至少一个元件相对于轴布置。本发明基于这样的想法:在第一步骤a)中,将元件会随后布置或附接到其上的轴和/或轴连同相对于该轴布置的元件布置在标记系统中。在第二步骤b)中,确定轴相对于标记系统的参考点,优选地原点的位置和/或旋转中心,并且接着在步骤c)中,结构施加到相对于轴布置的元件。因此,确定的不是如现有技术中元件自身的偏心距,而是元件相对于其布置的轴的位置,优选地其旋转中心,并且因此降低了制造不准确度并且也考虑了轴支座的动态不平衡。此外,由于当施加结构时元件已经处于其组装位置,因此可以大大地简化角度测量系统的生产。
根据发明方法的另一有利实施例,考虑轴的位置和/或旋转中心的确定来施加结构。这意味着,与其中当施加结构时,元件偏心距对校正数值来说是决定性的现有技术相比,在本发明方法中,当施加结构时根本不用考虑该元件偏心距,而仅对轴的位置或旋转中心感兴趣。由于元件不必布置在另一轴上,而是留在测量轴上,因此这是特别有可能的。
根据另一有利实施例,轴和/或具有相对于轴布置的元件的轴紧接步骤a)的所有步骤期间留在标记系统中。以有利的方式,因为避免了由于从标记系统移除轴而导致的缺陷,所以可以进一步提高精确度。同时,该方法因不必再次测量轴的位置而可以被简化。
根据另一有利实施例,使用测量体,具体地用于确定轴的位置和/或旋转中心与标记系统的参考点的关系,其中,测量体优选地以形状配合的方式放置在轴上。通过该发明性的测量体,轴相对于标记系统的参考点的位置或旋转中心可以被唯一地确定。因此,测量体可以形成为主动测量体和/或被动测量体。作为模范地,提供信号的传感器可以被视为主动测量体,其中信号可以用于(主动地)确定轴的位置,并且其中主动测量体将测量到的信号例如直接传递到标记系统乃至到控制系统,该控制系统又连接到标记系统。
可替代地或此外,也可以使用优选地通过标记系统预测量的被动测量体,从而又可以确定轴的位置或旋转中心。为此,标记例如可以施加到测量体上,该标记通过标记系统来探测。根据标记所位于的位置,标记系统可接着确定轴的位置或旋转中心。这种标记可以事先施加到测量体,但也能够通过标记系统施加并且接着测量该标记。
然而,同时也能够仅从测量体的几何形状确定轴的位置或旋转中心。
无论什么设计,测量体自身有利地允许简单快速地确定轴的位置或旋转中心,并且因此又简化了方法。
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